XFlash 6T-100
100mm2椭圆形无窗探测器

用于 STEM 的超大立体角EDS 系统

这一拥有100mm2椭圆形芯片、收集立体角大,无窗型的EDS探测器,具有优化的几何结构,可与所有的TEM型号匹配获得最好的采集效果。

其独特的芯片形状和艺术级的探指纤细化技术使得这款探测器X 射线收集的空间立体角 STEM 中达到≥0.7 sr,检出角达到≥13°,很容易实现原子级mapping及单个杂原子的识别 [1, 2]

[1] Direct atomic scale determination of magnetic ion partition in a room temperature multiferroic material (Open Access)

Scientific Reports 7, (2017) Article number: 1737; Authors: L. Keeney et al. 

[2] Individual heteroatom identification with X-ray spectroscopy (Open Access)

Applied Physics Letter Volume 108, Issue 16, 163101 (2016); Authors: R. M. Stroud, T. C. Lovejoy, M. Falke, N. D. Bassim, G. J. Corbin, N. Dellby, P. Hrncirik, A. Kaeppel, M. Noack, W. Hahn, M. Rohde, and O. L. Krivanek

XFlash® 6T-100 椭圆形无窗探测器的优势:

  • 100mm2 有效晶体面积
  • 无窗设计
  • 收集立体角≥ 0.7 sr
  • 检出角≥13.4°
  • 兼容UHV
  • X射线shutter
  • 无干扰冷却系统
  • 优异的低能端性能,很容易对谱峰重叠的轻元素和重元素的低能L、M、N线系进行谱峰剥离
  • 与布鲁克强大的分析软件无缝兼容

XFlash® 6T-100 椭圆形无窗探测器的优势应用领域:

TEM 、STEM 、球差电镜中的高级元素分析,包括但不限于:

  • 原子分辨率的元素表征
  • 快速数据采集
  • 痕量元素分析