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Hysitron PI 85L
SEM PicoIndenter

原位定量纳米力学测试

布鲁克的扫描电镜系列PicoIndenter设备是能与扫描电镜(SEM)结合的深度感应纳米力学测试设备。它能在SEM成像的同时进行定量纳米力学测试。这两种技术联用使研究者能在极其精确的位置上测试,并实时观察形变过程。

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PI85L Bruker tool image
surface analysis
PI 85L Stage image v2

高性能与多功能


该系统的样品台可容纳10mm厚的样品,在XYZ三方向运动范围均大于3mm。此外,样品台和传感器采用机械固定方式,提供了适用于纳米力学测试的稳定、刚性测试平台。这款精巧的设备还具有最大的样品台倾斜角和用于成像的最小工作距离。


与SEM成像同步的原位力学性能数据


PI 85L的原位力学数据采集是与SEM成像同步对应的。示例左侧力-位移曲线的不连续,对应着右侧FIB加工的铜-电介质复合悬臂的断裂。同步力学性能测试和SEM成像,有助于全面理解材料变形机制。

PI85L In Situ Mechanical 2
PI85L Mode collage v1

探索不同模式下的材料行为


PI 85L采用多种不同模式用于测试各种材料的基本力学特性,应力-应变行为,刚度,断裂韧性和形变机制等。

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多种扩展功能


除了标配的测试模式外,PI 85L还能可以选配其它模块用于扩展功能,从加热选项到电特性表征,PI 85L能适应您的不同需求。

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Upgrade modes image
surface analysis

PI 85L SEM PicoIndenter特性

  • 高级Performech®数字控制系统,反馈速率高达78kHz
  • 适用于各种SEM,Raman和光学显微镜的精巧设计
  • 静电力加载,电容位移传感器
  • 纳米压痕、压缩、拉伸和弯曲测试模式
  • 独有的Q-Control技术能有效降低震动

PI 85L SEM PicoIndenter是布鲁克专业原位纳米力学测试设备的下一代产品。它除了与SEM联用外,还适用于多种平台和环境。配备了布鲁克的电容传感器和超快78kHz反馈系统,它具有纳米尺度下优异的性能和稳定性。这款紧凑、精巧设计的设备完美适用于各种SEM,Raman和光学显微镜或加速器等。