S2 PICOFOX, TXRF Spectrometer, Trace Analysis

世界上第一台痕量分析 TXRF 光谱仪

快速多元素痕量分析

S2 PICOFOX 是世界上第一台便捷式台式光谱仪,用于应用全反射 X 射线荧光分析 (TXRF) 原理,对液体、悬浮液、固体和污染物进行定量和半定量多元素微量分析

由于检出限可以达到 ppb 和 ppm 级别,S2 PICOFOX 非常适用于痕量元素分析。在样品数量较少、液体样品含有高基质以及样品种类经常变化的情况下,这种优势十分明显。

 

S4 TStar at Analytica 2016

相比 AAS 和 ICP-OES, TXRF 的主要优点是

由于其完全独立于任何冷却介质,因此该分析仪不仅可用于实验室,而且能够在实地进行现场分析。

在许多应用中,S2 PICOFOX 都是对现有 AAS 或 ICP-OES 系统的重要增强。

    相比 AAS 和 ICP-OES 的主要优点

    • 可以同时进行多元素痕量分析,包括卤化物
    • 分析需要的样品量最少,可达毫微克或微克级别
    • 可根据内部标准简单量化

      相比 AAS 和 ICP-OES ,TXRF 的主要优点是

      • 适用于各种样品类型和应用领域
      • 用于快速现场分析的便捷式系统
      • 没有基体或记忆效应
      • 运行费用低,无需任何介质、处理或定期维护

        更多信息

        S2 PICOFOX 宣传册 (PDF)

        S2 PICOFOX 传单 – 生命科学 (PDF)

        S2 PICOFOX 传单 – 司法鉴定 (PDF)

        S2 PICOFOX for Environmental Applications

        S2 PICOFOX for Clinical Applications

        TXRF: S2 PICOFOX - Preparation of Solids for Elemental Analysis

        TXRF: S2 PICOFOX - Preparation of Suspensions and Undissolved Samples