快速 准确 高效
多功能快速分析
S4 T-STAR® 是一种多功能工具,用于分析各种样品类型,包括悬浮液、粉末、纳米颗粒或薄膜,制样简单,无需消解,而ICP则需要完全溶解的液体样品。
S4 T-STAR 的 GIXRF 选项支持用户通过掠入射 X 射线荧光技术(GIXRF)进行先进材料表征。该技术特别适用于纳米颗粒、单分子层及分层结构系统的分析。下载宣传册了解更多详情。
T-AERO套件是基于S4 T-STAR或S2 PICOFOX的直接采样现场解决方案,可对空气中颗粒物(PM)进行定量元素分析。
该套件能快速测定气溶胶中的痕量元素。相较于需耗时准备和处理的传统实验室方法,直接采样可显著缩短采样与分析时间。
T-AERO可在短短一小时内提供痕量元素结果,简化测量流程,助力污染监测及时开展空气质量评估,确保符合环境标准。
自动QC校准
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Easyload™样品台 |
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超大进样量 |
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载样玻片托盘储存方案 |
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测试样品质量控制
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在检测超低ppb级样品时,避免污染是首要任务——当处理纯净样品时,关键在于卓越的样品制备。
布鲁克为其S2 PICOFOX和S4 T-STAR系统配套提供一系列配件。
其中T-BOX配件可实现无污染精准移液操作,T-DRY则用于样品真空干燥处理;两者均通过避免操作者接触样品载体来保障纯净度。
测量结束后,可使用布鲁克耐化学腐蚀清洗盒高效清洁样品盘以备后续使用,随后存放于T-BOX中进行洁净存储。
了解更多信息,请下载我们的TXRF配件手册并观看TXRF样品制备视频。