software, X-ray diffraction, DIFFRAC.SUITE

LEPTOS H

LEPTOS H 支持高分辨X射线衍射和掠射入射X射线衍射数据分析。

 

此模块完全集成在LEPTOS软件包中,同时可与HRXRD、GISAXS和XRR数据分析同时进行。作为LEPTOS软件包的一部分,模块H继承了整软件包所有共通功能。

LEPTOS H Software, XRD
LEPTOS H contains an Area Mapping module that makes it possible to treat HR-XRD data taken point-by-point over a large sample area and to display mappings of sample parameters.

理论基础

     

  • 为克服Takagi-Taupin法的限制用快速2x2和精确的4x4递归矩阵形式论
  • 对结晶或非结晶材料的X射线散射参数(例如原子散射因子及X射线极化率,等等)采用用户模式来计算。
  • 对超晶格及重复多层膜结构分析使用Bruker专利的本征波计算法(Method of Eigen Waves, MEW)来加快拟合计算速度。

试样模型编辑器

     

  • 强有力的和灵活的试样模型编辑器,包括超晶格,连接层物理参数,用户定义的层间模型。
  • 系统包含强大的材料数据库,并容许用户自行扩充材料。
  • 晶胞产生器(Cell Builder engine)可自动调整试样结晶学参数包括晶格应变和错位,弛豫度,元素浓度和质量密度
  • 利用虚拟衍射仪工具来计算系统分辨率函数及光斑效应修正。

数据分析

     

  • 对实空间及倒易空间的数据可做模拟,估计及拟合分析。
  • 可同时组合分析由同一样品量测到的多个不同布拉格衍射峰。
  • 利用快速Fourier变换来提供快速薄膜厚度估计分析,并可利用估计工具从量测峰位直接对样品参数进行快速分析。
  • 利用先进的动力学理论对大量的样品参数进行准确分析。可选用的拟合程序包括了遗传演算法,模拟退火法,Simplex演算法及Levenberg-Marquardt演算法
  • 计算中考虑了非径向单位晶胞及来自同一样品不同{hkl}衍射峰的影响。
  • 可进行区域分布图分析。利用程序界面来实现自动数据分析。

结果输出

  • 分析结果储存在XML格式的工程文档
  • 多种报告输出选项及定制输出