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AFM 模式

峰值力量 Secm

基于 AFM 的扫描电化学显微镜

最后 = 完整的 SECM 解决方案

布鲁克的独家 PeakForce SECM ™模式是全球首个基于 AFM 的扫描电化学显微镜 (SECM) 的完整商用解决方案。凭借小于 100 纳米的空间分辨率™ PeakForce SECM 独树一帜地提供地形、电化学、电气和机械地图的同步捕获,具有纳米级横向分辨率。这项技术从根本上重新定义了液体中电气和化学过程的纳米级可视化的可能。

获取以前无法实现的电化学信息

(A) EC电流皮肤覆盖的纳米微粒电极(Au-SiO2)的3D地形;(B) Au-SiO2表面的地形和EC变化的线型图;在(A)中,在Au-SiO2表面上的地形和EC变化的线型;和 (C) 纳米电子阵列样品的地形和 EC 变化的线型图。纳纳米电极样品由C.斯特林和M.雷奇提供,拜雷厄特大学。图片由贝雷厄特大学的 A. Mark 和 S. Güdrich 提供。Nanoelectrode阵列样本由M.Nellist和俄勒冈大学Boettcher教授提供。

PeakForce SECM 在数量级上显著改善了与传统方法的解析能力。这加速了对储能系统(如锂离子电池)、腐蚀科学和生物传感器的研究,为单个纳米粒子、纳米相和纳米孔进行新测量打开了大门。

在液体中同时执行电化学、电气和机械映射

在Au基板上微接触打印CH3-thiol自组装单层(SAM)的SSECM图像:(A) 地形变化 <1 nm; (B) PeakForce QNM adhesion force; and (C) electrochemical activity at a lift height of 40 nm. (B) and (C) show quantitatively 700 pN and 108 pA differences in adhesion force and electrochemical current, respectively, between the Au and SAM regions. Image courtesy of A. Mark and S. Gödrich, University of Bayreuth.

PeakForce SECM 由布鲁克独有的 峰值力攻丝 技术提供支持,独特的方式可同时提供多维数据。只有峰值力 SECM 允许生物、化学和物理性质与纳米尺度的形态结构相关。

受益于专为 SECM 设计的可靠、易于使用的探头

(A) 布鲁克独家预装 PeakForce SECM 探头提供简单、安全的操控性,以及数小时成像和多次清洁周期中极其稳定的性能。(B) 探针的SEM图像;(C) COMSOL模拟10mM [Ru(NH3)6]3] 型材;(D) 从 50 次连续扫描中挑选的第 1、25 和 50 个 CV,扫描速率为 20 mV/s;(E) 2 小时安培测试,与 AgQRE 相比,2 小时安培测试,内嵌放大倍率从 70 分钟到 120 分钟;和 (F) 模拟(虚线)和实验(实线)接近曲线。C 和 E 图像由 C. 翔和 Y. 陈, 加州理工学院提供.

布鲁克的预装 PeakForce SECM 探头提供简单、安全的操控性,优化的支架为敏感信号处理提供电气稳定的架构。经过 10 多个小时的 EC 测试和多次重复使用清洁周期,已证明了极其稳定的探头性能。