显微镜

材料型原子力显微镜

帮助科学家发现、研究和理解材料科学领域的前沿课题

产品

高分辨率原子力显微镜,适用于极具挑战性的研究

随着原子力显微镜成为尖端材料研究的主要技术进入其第四个十年,使用其高分辨率数据不断推动研究发现,所涵盖的学科和应用领域数不胜数。自20世纪80年代引入首个商用系统以来,布鲁克一直在不断扩展AFM功能。随着技术的成熟,AFM使科学家有机会表征更为复杂的样品的特性,而不仅仅局限于形貌特征。我们对帮助您更轻松地开展更多研究的承诺,是确保布鲁克AFM始终处于仪器创新的最前沿的推动力。例如,布鲁克AFM独家提供PeakForce Tapping®技术,正在以每天发表三篇经过同行评审的文章的速度帮助研究人员推进新的纳米力学、纳米电学和纳米电化学研究。

AFM 模式

AFM 模式

用AFM拓展您的应用

凭借一整套出色的AFM成像模式,布鲁克能为您每项研究提供适用的 AFM 技术。

基于核心成像模式(接触模式和轻敲模式),布鲁克提供的全套 AFM测试模式,允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克独创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式,已被应用到多种测量模式中,能同时提供形貌、电学和力学性能数据。

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我们的网络研讨会涵盖最佳实验操作,新产品介绍,为棘手的问题提供快速解决方案,并给您带来最新的应用、模式或技术介绍。

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我们能提供哪些支持?

布鲁克致力于为客户解决实际应用问题。我们不断开发新的测试技术,并帮助客户选择最合适的系统与配件。我们通过培训或者延保等方式,与客户保持长久的合作关系。

我们拥有专业的服务团队,支持工程师、应用科学家和专家团队将通过系统服务,功能升级,应用拓展和技术培训等多种方式帮助您最大化的发挥设备的效能。

 

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