Dimension FastScan 原子力显微镜
Dimension FastScan
Dimension FastScan® 原子力显微镜 （AFM） 系统经过专门设计，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加设备复杂性，不带来繁琐操作的前提下，即可实现快速扫描。使用 FastScan，您可以即时快速地获得 AFM 图像，实现高性能 AFM 的预期高分辨率。无论您是以 >125Hz 扫描样品表面寻找查找感兴趣的区域时，或是在气相或流体中以每秒 1 秒的速率采集AFM图像，都能用FastScan得到优异的高分辨图像。Dimension FastScan这一变革性技术重新定义了 AFM 仪器的使用体验。
高速、高分辨率原子力显微镜的标杆
Dimension FastScan 是高速针尖扫描原子力显微镜系统。Dimension FastScan 能在各种尺寸的样品上实现高达每秒一帧的扫描速率，而不牺牲分辨率或任何仪器性能。结合 峰值力®轻敲模式，Dimension FastScan 使用线性控制回路实现了实时的力测量，从而在各种刚度的样品表面上，无论是坚硬平滑的晶体表面还是柔软粗糙的聚合物表面上，都能获得高分辨的形貌及力学性能。
卓越的生产力
Dimension FastScan 的每个方面（包括开放的大样品台设计和预先优化的软件设置）都经过专门设计，实现极其简易的操作。快速找寻样品、快速进针、快速扫描、低噪音、极低的漂移速率（低至200 pm每分钟）、扩展性极强的直观用户界面，再与世界知名的 Dimension 大样品台相结合，Dimension FastScan为操作者提供了全新的AFM使用体验，更快地得到可供发表的数据。无须经过繁复的调整和优化，Dimension FastScan的 用户可以立即获得高质量的结果。
快速开发新应用和获得新信息
样品搜寻是探索未知样本以了解其区域异质性、特征区域特性以及机械性质的常用方法。以下是 FastScan 抽样调查的结果，该调查生成了一组高质量图像，从 20 μm 的高分辨率整体形貌到比原始扫描范围小 10 倍的局部。从一次仅需花费8分钟的扫描中可以得到多个通道高分辨数据，每条数据通道均打到了 1600 万像，可以清晰地揭示样品的各种性质。
Powered by the NanoScope 6 AFM Controller
Featuring higher speeds, lower noise, and greater AFM mode flexibility, the NanoScope 6 controller allows users to harness the full potential of our high-performance Dimension and MultiMode AFM systems. This latest generation controller provides unprecedented accuracy, precision, and versatility for nanoscale surface measurements in every application.
NanoScope 6 uniquely enables Bruker AFMs to:
- Operate in more imaging modes than is possible with competing systems, including unique and advanced AFM modes that require complex control and analysis;
- Collect accurate, quantitative data for nanoelectrical and nanomechanical property measurements in every application; and
- Optimize and customize scanning parameters to meet even the most demanding research and industry measurement requirements.
Contact us to discuss your measurement requirements, the systems best-suited to your applications, and options for system specialization, or submit a sample run request to validate that a Bruker AFM will meet your specific needs.
用AFM拓展您的应用
凭借一整套出色的AFM成像模式，布鲁克能为您每项研究提供适用的 AFM 技术。
基于核心成像模式（接触模式和轻敲模式），布鲁克提供的全套 AFM测试模式，允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克独创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式，已被应用到多种测量模式中，能同时提供形貌、电学和力学性能数据。
Dimension FastScan数据库
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听听客户怎么说
我们已经使用布鲁克快扫描AFM超过两年。 根据我们的经验，Fastscan 图像速度比其他 AFM 快四到五倍，而不会降低分辨率。 此外，ScanAsyst 模式具有智能自动扫描参数调整功能，使我们能够轻松快速扫描许多样本。 卓越的 Fastscan AFM 性能在 DNA 纳米技术研究领域拥有许多出版物，使集团的声誉更胜一筹。
