ATOMIC FORCE MICROSCOPE

Dimension FastScan

첫 번째 및 유일한 타협 없는 고속 AFM
Dimension FastScan

하이라이트

Dimension FastScan

Dimension FastScan® 원자력 현미경 (AFM) 시스템은 특히 해상도 손실, 힘 제어 손실, 추가 복잡성 또는 추가 운영 비용 없이 빠르게 스캔하도록 특별히 설계되었습니다. FastScan을 사용하면 고성능 AFM의 예상되는 고해상도로 즉각적인 AFM 이미지를 얻을 수 있습니다. 관심 영역을 찾기 위해 샘플을 조사할 때 >125Hz에서 스캔하거나, 공기 또는 유체의 이미지 프레임당 1초 속도로 스캔하든 FastScan은 AFM 환경을 재정의합니다.

타협반대
고속 성능
샘플 크기와 상관없이 언제든지 최고의 해상도를 제공.
실시간
나노스케일 역학
공기 또는 유체에서 동적 동작을 직접 시각화 할 수 있는 궁극적인 팁 스캐닝 속도와 안정성을 제공.
자동화
설정, 데이터 수집 및 분석
생산성을 향상시키면서 시스템 작동을 놀라울 정도로 간단하게 만들어 연구에 집중할 수 있음.

특징

특징

고속 및 고해상도 벤치마크

Dimension FastScan은 샘플 크기와는 별개로 해상도 또는 시스템 성능을 저하시키지 않으면서 초당 프레임 스캔 속도를 달성하는 최초의 유일한 고속 팁 스캐닝 시스템입니다. 다른 고속 AFM은 FastScan의 큰 샘플 액세스권한이 없습니다. PeakForce Tapping®결합된 이 시스템은 선형 제어 루프를 통해 순간적인 힘 측정을 달성하여 단단하고 평평한 결정 뿐만 아니라 점 결함 치수 및 기계적 해상도를 허용합니다.

방해석의 포인트 결함 해상도 강성 이미지. 15 nm 이미지 크기 (패널 1). iPMMA 필름의 아분자 해상도 접착 이미지. 100 nm 이미지 크기 (패널 2). 샘플 제공 : Prof. Dr. Thurn-Albrecht, Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg.

뛰어난 생산성

10분 이내에 6개의 다른 샘플의 완전 무인, 자동화 및 완전 자체 최적화 이미징으로 각각의 경우에 게시 품질 결과를 얻을 수 있습니다.

와이드 오픈 팁과 샘플 액세스에서 사전 구성된 소프트웨어 설정에 이르기까지 Dimension FastScan의 모든 측면은 문제 없이 놀라울 정도로 간단한 작업을 위해 특별히 설계되었습니다. 빠른 샘플 탐색, 빠른 연결, 빠른 스캐닝, 저소음, 분당 200pm 미만의 드리프트 속도, 확장된 직관적인 사용자 인터페이스 및 세계적으로 유명한 Dimension 플랫폼이 결합되어 AFM에서 완전히 새로운 경험을 제공하는 동시에 결과 및 공개에 더 빠른 시간을 제공하는 고품질 데이터를 보장합니다. FastScan 사용자는 전문가의 일반적인 작업 시간 없이 즉각적인 고품질의 결과를 얻을 수 있습니다.

더 많은 애플리케이션 및 더 빠르고 새로운 통찰력

샘플 측량은 이질성, 고유한 특징 및 기계적 특성을 이해하기 위해 알려지지 않은 샘플을 탐색하는 일반적인 방법입니다. 다음은 FastScan 샘플 조사의 결과이며, 20 μm 면적의 고해상도 지형 이미지에서 원래 스캔보다 10 배 작은 하위 섹션에 이르기까지 고품질의 이미지 세트를 생성했습니다. 8분 스캔의 결과는 여러 채널의 16메가픽셀의 데이터로, 고해상도 데이터를 명확하게 관찰합니다.

수경 처리된 실리콘 표면의 폴리스티렌 필름(<100nm 두께)에 습윤력 및 비 습윤력을 조사
비정형 약물 제형은는 60 분 안에 60 개의 사이트를 캡처하여 연구합니다. 샘플 제공 : M. E. Lauer, O. Grassmann, F. Hoffmann-LaRoche, Basel, Switzerlan.

응용

AFM 모드

AFM 모드로 애플리케이션 확장

타의 추종을 불허하는 이미징 모드 제품군을 갖춘 Bruker는 모든 연구를 위한 AFM 기술을 보유하고 있습니다.

핵심 이미징 모드(Contact Mode와 Tapping Mode)의 근본을 기반으로 구축된 Bruker는 사용자가 샘플의 전기적, 자기적 또는 재료 특성을 조사할 수 있는 AFM 모드를 제공합니다. Bruker의 혁신적인 새로운 PeakForce Tapping 기술은 지형, 전기 및 기계적 특성 데이터를 병렬로 제공하는 여러 모드에 통합된 새로운 핵심 이미징 패러다임을 나타냅니다.

웨비나

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고객의 평가

우리는 2 년 이상 브루커 Fastscan AFM을 사용하고 있습니다. 우리의 경험에서 Fastscan 이미지는 다른 AFM에 비해 해상도를 저하하지 않고 4 ~ 5 배 더 빠릅니다. 또한 지능형 자동 스캔 매개 변수 조정을 갖춘 ScanAsyst 모드를 사용하면 많은 샘플을 쉽게 빠르게 스캔할 수 있습니다. 우수한 Fastscan AFM 성능은 DNA 나노 기술 연구에서 많은 간행물로 우리 그룹의 명성을 향상시켰습니다.

Dr. Shou-Jun Xiao, Nanjing University, Nanjing China

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