原子間力顕微鏡

Dimension FastScan

スタンダードモデル 高速・高分解能AFM

Dimension FastScan

分解能やフォースコントロールを損なうことなく、非常に高速なイメージングスピードを達成した初めてのAFMです。Dimension Icon® AFMシステムをベースとし、チップスキャン方式を採用により大口径から小さなサイズまでサンプルの大きさ・重量に制限されません。大気中、液中ともに測定ができるため、高性能AFMで得られる高分解能イメージが1台のシステムで得られます。サンプル上で測定個所を探すときは125Hz以上の高速で測定可能で、大気中、液中にかかわらず数秒で1イメージが取得できます。

高速
高速・高分解能
サンプルサイズに依存しない、いつでも、いつでも最高の解像度を提供します。
リアルタイム
ナノスケールダイナミクス
空気中または流体中の動的挙動を直接可視化するための究極のチップスキャン速度と安定性を提供します。
自動化機能
セットアップ・データ収集・分析
システムの操作が驚くほど簡単になり、操作にかかる時間のロスを低減し研究に貢献します
機能

高速・高解像度により高いベンチマークスコアを実現

Dimension FastScanは、解像度やシステム性能を損なうことなく、サンプルサイズに依存しない1秒あたりのフレーム数のスキャンレートを実現した、最初で唯一の高速チップスキャンシステムです。FastScanのような大規模なサンプルアクセスを実現した高速AFMは他にありません。PeakForce Tapping®との組み合わせにより、このシステムはリニア制御ループで瞬時の力測定を実現し、硬くて平らな結晶だけでなく、点欠陥の寸法や機械的な分解能を可能にします。

方解石の点欠陥分解能剛性画像。15 nm のイメージ サイズ(パネル 1)。iPMMA膜の分子下解像度接着画像100 nm のイメージ サイズ(パネル 2)。サンプルの礼儀:トゥルン・アルブレヒト教授、マーティン・ルーサー・ユニバーシテット・ハレ・ヴィッテンベルク。

優れた生産性

完全無人、自動化された、完全に自己最適化の6つのサンプルの10分以内のイメージングは、それぞれの場合に出版品質の結果をもたらします。

広く開いたチップやサンプルへのアクセスから事前に設定されたソフトウェア設定まで、Dimension FastScanのあらゆる面は、トラブルのない、驚くほどシンプルな操作を目指して特別に設計されています。高速サンプルナビゲーション、高速エンゲージメント、高速スキャン、低ノイズ、数時間にわたるドリフト率200pm/分以下、拡張された直感的なユーザーインターフェース、そして世界的に有名なDimensionプラットフォームを組み合わせることで、高品質なデータをより早く結果と公表に結びつけると同時に、AFMの全く新しい体験を提供します。FastScanのユーザーは、専門家による通常の調整に何時間も費やすことなく、すぐに高品質の結果を得ることができます。

より多くのアプリケーションと新たな知見をより早く

サンプル調査は、未知のサンプルを調査して、不均一性、固有の特徴、機械的特性を理解するための一般的な方法です。ここでは、20μmの領域の高解像度地形画像から、元のスキャンの10倍のサブセクションまでの高品質な画像のセットを作成したFastScanサンプル調査の結果を紹介します。1回の8分間のスキャンで得られた結果は、16メガピクセルのデータを複数のチャンネルに分割したもので、高解像度のデータが鮮明に観察されています。

ポリスチレンフィルムの濡れと濡れ解除を促進する力を調査する(<100nm thick) on hydrophobically treated silicon surfaces.
アモルファス薬物製剤研究は、60分で60部位を捕捉する。サンプル提供:M.E.ラウアー、O.グラスマン、F.ホフマン・ラローシュ、バーゼル、スイス。

Powered by the NanoScope 6 AFM Controller


Featuring higher speeds, lower noise, and greater AFM mode flexibility, the NanoScope 6 controller allows users to harness the full potential of our high-performance Dimension and MultiMode AFM systems. This latest generation controller provides unprecedented accuracy, precision, and versatility for nanoscale surface measurements in every application.

NanoScope 6 uniquely enables Bruker AFMs to:

  • Operate in more imaging modes than is possible with competing systems, including unique and advanced AFM modes that require complex control and analysis;
  • Collect accurate, quantitative data for nanoelectrical and nanomechanical property measurements in every application; and
  • Optimize and customize scanning parameters to meet even the most demanding research and industry measurement requirements.

Contact us to discuss your measurement requirements, the systems best-suited to your applications, and options for system specialization, or submit a sample run request to validate that a Bruker AFM will meet your specific needs.

AFMモード

AFM モードでアプリケーションを拡張する

使用可能なイメージングモードの比類のないスイートで、Brukerはあらゆる調査のためのAFM技術を持っています。

コアイメージングモードのバックボーン(コンタクトモードとタッピングモード)に基づいて構築されたBrukerは、サンプルの電気的、磁気的、または材料特性を調査できるAFMモードを提供します。Brukerの革新的な新しいPeakForceのタッピング技術は、いくつかのモードに組み込まれた新しいコアイメージングパラダイムを表し、地形、電気、機械的特性データを並行して提供します。

お客様の言うことを聞く

私たちは2年以上前からBruker Fastscan AFMを使用しています。 私たちの経験では、Fastscanは他のAFMと比較して解像度を落とすことなく4~5倍のスピードで画像を取得しています。 さらに、インテリジェントな自動スキャンパラメータ調整機能を備えたScanAsystモードにより、多くのサンプルを簡単に素早くスキャンすることができます。 Fastscanの優れたAFM性能は、DNAナノテクノロジー研究において多くの論文を発表し、当グループの評価を高めてきました。

南京大学・中国・南京大学・聖順暁博士

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