현미경

재료 연구용 AFM

과학자들이 재료 과학의 발전과 관련한 주제를 발견, 이해 및 출판 할 수 있도록 지원

제품

도전적인 연구를 위한 고해상도 AFM

첨단 재료 연구 분야의 주요 기법으로써 4세대에 진입하는 원자력 현미경 검사는 고해상도 데이터를 통해 수많은 분야와 응용 분야에 걸쳐 발견에 도움을 주는데 사용되어 왔습니다. Bruker는 1980년대에 최초의 상용 시스템을 도입한 이래 AFM 기능 확장을 주도해 왔습니다. 기술이 발전함에 따라 AFM은 과학자들에게 단순한 표면형상 뿐만 아니라 훨씬 더 복잡한 샘플에서도 물성의 특징을 나타낼 수 있는 기회를 주었습니다. 더 많은 일을 하고, 더 쉽게 할 수 있도록 지원하여 브루커의 AFM은 장비 혁신의 최첨단을 유지하고 있습니다. 예를 들어, 독자적인 기술로 구동되는 PeakForce Tapping®  Bruker AFM은 연구원들이 매일 3개의 Peer-reviewed 논문을 출간하기 위한 새로운 나노 기계, 나노 전기 및 나노 전기 화학 연구를 발전시키는 데 도움을 주고 있습니다.

AFM 모드

AFM 모드

AFM 모드로 애플리케이션 확장

타의 추종을 불허하는 이미징 모드 제품군을 갖춘 Bruker는 모든 연구를 위한 AFM 기술을 보유하고 있습니다.

핵심 이미징 모드(Contact Mode와 Tapping Mode)의 근본을 기반으로 구축된 Bruker는 사용자가 샘플의 전기적, 자기적 또는 재료 특성을 조사할 수 있는 AFM 모드를 제공합니다. Bruker의 혁신적인 새로운 PeakForce Tapping 기술은 지형, 전기 및 기계적 특성 데이터를 병렬로 제공하는 여러 모드에 통합된 새로운 핵심 이미징 패러다임을 나타냅니다.

응용 프로그램

리소스

리소스

AFM 웨비나 보기

당사의 웨비나는 모범 사례를 다루고, 신제품을 소개하고, 까다로운 질문에 대한 빠른 솔루션을 제공하고, 새로운 애플리케이션, 모드 또는 기술에 대한 아이디어를 제공합니다.

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