Effektive Fehleranalyse von Verpackungsmaterialien

Die FT-IR-Mikroskopie ist eine attraktive Methode für die Fehleranalyse in komplexen mehrschichtigen Verpackungsmaterialien.

Lesen Sie unsere Applikationsnotiz, um aus Praxisbeispielen zu lernen, wie man

  • die chemische Identität von Schadstellen in einer Verpackungsfolie identifiziert
  • die Homogenität einer Beschichtung auf einer Polymerfolie bestimmt und visualisiert
  • die Unversehrtheit einer Kaltsiegelung untersucht