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Atomic Force Microscopy (AFM) & X-ray Diffraction (XRD) Webinar

高分子のIn-Situ結晶評価ソリューションWEBセミナー~X線回折と原子間力顕微鏡による高分子薄膜の多角的評価~

内容

高分子材料、高分子薄膜の結晶評価・解析技術の最前線をテーマにしたオンラインセミナーをブルカーX線事業部とナノ表面計測事業部の共催でお届けします。

<こんな方におすすめ>

  • フィルム・繊維・薄膜などの高分子系材料の研究・開発に携わる方
  • 高分子温度変化、局所熱分析、結晶構造分析、高分子の結晶評価にご興味のある方
  • X線回折装置や原子間力顕微鏡の測定手法による出来る事、分かる事が知りたい方
  • 測定手法について新たな知識を得たい方

<プログラム>

日程:6月10日 13時30分~14時30分
プレゼン①
「最新のX線回折装置で見るアプリケーション」
概要:ブルカーが誇る最新のX線回折装置を使用した、フィルム・繊維・薄膜へのアプローチを、様々な測定の事例を交えてお話しいたします。
プレゼンター:X線事業部 営業部 満岡謙祐

プレゼン② 
「AFM(原子間力顕微鏡)を用いた高分子薄膜のIn-Situ解析 ~AFMの基礎から応用測定~」
概要:ブルカーの最新機種であるDimension IconXRを用いて、高分子薄膜解析への様々なアプローチを、測定モード及び測定例を交えて紹介いたします。
プレゼンター:ナノ表面計測事業部 アプリケーションエンジニア 寺山剛司

This webinar is held in Japanese.