高分子のIn-Situ結晶評価ソリューションWEBセミナー~Ｘ線回折と原子間力顕微鏡による高分子薄膜の多角的評価~
内容
高分子材料、高分子薄膜の結晶評価・解析技術の最前線をテーマにしたオンラインセミナーをブルカーＸ線事業部とナノ表面計測事業部の共催でお届けします。
＜こんな方におすすめ＞
- フィルム・繊維・薄膜などの高分子系材料の研究・開発に携わる方
- 高分子温度変化、局所熱分析、結晶構造分析、高分子の結晶評価にご興味のある方
- X線回折装置や原子間力顕微鏡の測定手法による出来る事、分かる事が知りたい方
- 測定手法について新たな知識を得たい方
＜プログラム＞
日程：6月10日 13時30分～14時30分
プレゼン①
「最新のX線回折装置で見るアプリケーション」
概要：ブルカーが誇る最新のX線回折装置を使用した、フィルム・繊維・薄膜へのアプローチを、様々な測定の事例を交えてお話しいたします。
プレゼンター：X線事業部 営業部 満岡謙祐
プレゼン②
「AFM（原子間力顕微鏡）を用いた高分子薄膜のIn-Situ解析 ～AFMの基礎から応用測定～」
概要：ブルカーの最新機種であるDimension IconXRを用いて、高分子薄膜解析への様々なアプローチを、測定モード及び測定例を交えて紹介いたします。
プレゼンター：ナノ表面計測事業部 アプリケーションエンジニア 寺山剛司
This webinar is held in Japanese.