Bruker Nano Analytics

Análisis de elementos

Análisis de elementos en microscopios electrónicos, espectrómetros de micro-XRF y TXRF de sobremesa e instrumentos XRF de mano / móviles / portátiles

La cartera de productos de Bruker Nano Analytics incluye una gama única de herramientas analíticas para la caracterización de materiales en microscopios electrónicos:

  • espectrometría de dispersión de energía en microscopios electrónicos de barrido (EDS para SEM)
  • espectrometría de dispersión de energía en microscopios electrónicos de transmisión ( EDS para TEM)
  • difracción de electrones retro dispersados (EBSD)
  • espectrometría dispersiva de longitud de onda para SEM (WDS)
  • análisis de micro fluorescencia de rayos X en SEM (micro-XRF en SEM)

Además de esta gama incomparable de herramientas analíticas para microscopios electrónicos, Bruker también ofrece una variedad de microanalizadores de fluorescencia de rayos X de sobremesa (micro-XRF) para el análisis de composición resuelto espacialmente y los instrumentos de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF) para el análisis de elementos traza para una multitud de aplicaciones en la industria y la investigación.

Por último, pero no menos importante, los espectrómetros de fluorescencia de rayos X de mano / móviles / portátiles de BNA (XRF de mano) tienen la capacidad de cuantificar o calificar de manera no destructiva casi cualquier elemento, desde magnesio hasta uranio (dependiendo de configuraciones de instrumentos específicos), brindando un análisis elemental rápido e in situ en una amplia gama de campos de aplicación.

Sala de exposición virtual

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