Bruker Nano Analytics

La cartera de productos de Bruker Nano Analytics incluye una gama única de herramientas analíticas para la caracterización de materiales en microscopios electrónicos:

• espectrometría de dispersión de energía en microscopios electrónicos de barrido (EDS para SEM)
• espectrometría de dispersión de energía en microscopios electrónicos de transmisión ( EDS para TEM)
• difracción de electrones retro dispersados (EBSD)
• espectrometría dispersiva de longitud de onda para SEM (WDS)
• análisis de micro fluorescencia de rayos X en SEM (micro-XRF en SEM)

Además de esta gama incomparable de herramientas analíticas para microscopios electrónicos, Bruker también ofrece una variedad de microanalizadores de fluorescencia de rayos X de sobremesa (micro-XRF) para el análisis de composición resuelto espacialmente y los instrumentos de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF) para el análisis de elementos traza para una multitud de aplicaciones en la industria y la investigación.

Por último, pero no menos importante, los espectrómetros de fluorescencia de rayos X de mano / móviles / portátiles de BNA (XRF de mano) tienen la capacidad de cuantificar o calificar de manera no destructiva casi cualquier elemento, desde magnesio hasta uranio (dependiendo de configuraciones de instrumentos específicos), brindando un análisis elemental rápido e in situ en una amplia gama de campos de aplicación.

Visite los laboratorios de nuestra sede en Berlín (Alemania) o simplemente realice un recorrido virtual por nuestra sala de exposición para ver y aprender más sobre nuestras soluciones analíticas.

Si tiene alguna pregunta, no dude en ponerse en contacto con nuestro equipo de expertos de ventas o atención al cliente.