Análisis estructural y elemental de rayos X

Bruker desarrolla y fabrica instrumentos para el análisis estructural y elemental en la investigación de materiales, las ciencias de la vida y el control de calidad. Nuestras soluciones abarcan la difracción de rayos X (XRD) sensible a la superficie y al material colectivo, la cristalografía biológica y química, el análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) por dispersión de energía y longitud de onda, la microscopia de rayos X (XRM) en 3D, la espectroscopia de emisión óptica (OES) y el análisis de gases de combustión y fusión.

Los sistemas de Bruker se centran en la modularidad y la flexibilidad. Ofrecemos la más amplia variedad de fuentes, ópticas, entornos de muestra y detectores disponibles, junto con un asesoramiento experto para configurar el sistema óptimo. El sistema de nivel básico puede reconfigurarse o actualizarse para satisfacer los nuevos requisitos que van surgiendo.

Nuestras soluciones son fáciles de manejar gracias al control táctil y a la automatización con un solo botón. Diseñamos instrumentos robustos y compactos para entornos difíciles. Contamos con capacitación profesional y servicio mundial para dar apoyo a nuestros clientes.