Analisi elementare e strutturale ai raggi X

Bruker sviluppa a produce strumenti per l'analisi elementare e strutturale nel campo della ricerca sui materiali, della biologia e del controllo di qualità. Le nostre soluzioni coprono la diffrazione dei raggi X per materiali sfusi e superficie sensibile (XRD), la cristallografia biologica e chimica, l'analisi di fluorescenza ai raggi X a lunghezza d'onda e a dispersione di energia (XRF), la microscopia 3D ai raggi X (XRM), la spettroscopia ad emissione ottica (OES), come anche l'analisi dei gas di combustione e di fusione.

I sistemi Bruker sono caratterizzati da modularità e flessibilità. Offriamo la più grande varietà di sorgenti, sistemi ottici, ambiente e rilevatori di campione, accompagnati da consigli di esperti per la configurazione del sistema ottimale. Il sistema in versione base può essere riconfigurato o aggiornato per adattarsi alla variazione dei requisiti.

Le nostre soluzioni sono facili da usare grazie al TouchControl e all'automazione a pulsante unico. Costruiamo strumenti robusti e compatti per ambienti difficili. La formazione professionale e l'assistenza in tutto il mondo sono sempre a disposizione a supporto dei nostri clienti.