Analisi elementare e strutturale ai raggi X

Bruker sviluppa a produce strumenti per l'analisi elementare e strutturale nel campo della ricerca sui materiali, della biologia e del controllo di qualità. Le nostre soluzioni coprono la diffrazione dei raggi X per materiali sfusi e superficie sensibile (XRD), la cristallografia biologica e chimica, l'analisi di fluorescenza ai raggi X a lunghezza d'onda e a dispersione di energia (XRF), la microscopia 3D ai raggi X (XRM), la spettroscopia ad emissione ottica (OES), come anche l'analisi dei gas di combustione e di fusione.

I sistemi Bruker sono caratterizzati da modularità e flessibilità. Offriamo la più grande varietà di sorgenti, sistemi ottici, ambiente e rilevatori di campione, accompagnati da consigli di esperti per la configurazione del sistema ottimale. Il sistema in versione base può essere riconfigurato o aggiornato per adattarsi alla variazione dei requisiti.

Le nostre soluzioni sono facili da usare grazie al TouchControl e all'automazione a pulsante unico. Costruiamo strumenti robusti e compatti per ambienti difficili. La formazione professionale e l'assistenza in tutto il mondo sono sempre a disposizione a supporto dei nostri clienti.

Visit the demo facilities in our headquarters in Karlsruhe (Germany) or just take a virtual tour on our showroom to see and learn more about our analytical solutions. If you have any questions, please do not hesitate to contact our team of experts from sales or customer support.

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Bruker AXS GmbH 
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Tel. +49 721 50997-0