Análise Elementar e Estrutural de Raios X

A Bruker desenvolve e fabrica instrumentos para análise estrutural e elementar nas áreas da investigação de materiais, ciências da vida e controlo de qualidade. As nossas soluções abrangem a Difração de Raios X (XRD) sensível a superfícies e material a granel, a cristalografia biológica e química, a análise de Fluorescência de Raios X (XRF) de energia dispersiva e em comprimento de onda, Microscopia de Raios X 3D (XRM), Espetroscopia de Emissão Ótica (OES) e análise de gases de combustão e fusão.

Os sistemas Bruker enfatizam a modularidade e a flexibilidade. Oferecemos a mais ampla variedade de fontes, óticas, ambientes de amostra e detetores disponível, juntamente com o aconselhamento especializado na configuração do sistema ideal. O sistema básico pode ser reconfigurado ou atualizado para satisfazer requisitos evolutivos.

As nossas soluções são fáceis de operar, através da utilização do TouchControl e da automação de um botão. Construímos instrumentos robustos e compactos para ambientes adversos. A formação profissional e o serviço a nível mundial estão implementados para apoiar os nossos clientes.