Analizadores de microscopio electrónico

Gama única de herramientas analíticas para microscopios electrónicos

Los analizadores de microscopio electrónico de Bruker — EDS, EBSD y Micro-XRF en SEM — ofrecen el análisis composicional y estructural de materiales más completo que existe en la actualidad. La integración total de todas estas técnicas en el software ESPRIT te permite combinar fácilmente los datos obtenidos mediante estos métodos complementarios para obtener los mejores resultados.

Software de análisis

Software: Familia ESPRIT

ESPRIT 2 une tres métodos analíticos bajo una única interfaz de usuario. Estos incluyen EDS para SEM y (S)TEM, WDS, Micro-XRF para SEM y EBSD.

ESPRIT QUBE Software

ESPRIT QUBE es una plataforma de software moderna para el postprocesamiento y visualización avanzados de datos 3D EBSD y EDS. el software analítico más avanzado para la visualización 3D y post-procesamiento de datos adquiridos con EBSD y/o EDS en microscopios electrónicos.

SEM EDS map of minerals with automated false colouring of mineral deposits created using AMICS software

AMICS: Automated Mineralogy Software

AMICS is a complete system for advanced mineral identification and characterization, giving users the ability to quickly and accurately collect data and match minerals using an extended database.

Infórmate sobre el análisis elemental y el microanálisis

EDS - An Introduction to Energy Dispersive Spectroscopy

EDS is a common microanalytical technique used for the elemental analysis of samples under an electron microscope. Find out more about how EDS works and how it can be used!

EBSD - An Introduction to Electron Backscatter Diffraction

EBSD is powerful, SEM-based technique used to determine a material's microstructure. Find out here the science behind EBSD and what is possible using the latest detector technology.

Trace Element Map of Ore - Zinc, Iron, Lead, Cadmium

Full Range EDS - Augmenting EDS with micro-XRF

Full Range EDS allows users to overcome the limits of conventional EDS. Using a Full Range EDS system trace element analysis, layer analysis and the identification of high-energy elemental lines is possible.

EDS map showing Ta and Si distribution - the results are similar to those acheived using WDS and are collected in less time.

Analytical Alternatives to WDS for Elemental Analysis on SEM

Many researchers use Wavelength Dispersive Spectroscopy (WDS) to overcome challenges such as elemental peak overlaps, low signal intensities or to perform analysis at low kV.

Developments in EDS peak deconvolution routines in conjunction with modern windowless detectors and micro-XRF on SEM now mean that these challenges can be overcome without the limitations of WDS analysis.