전자 현미경 분석기

전자 현미경을 위한 분석 공구의 독특한 범위

브루커(Bruker)의 전자현미경 분석기인 EDS, EBSD 및 SEM용 마이크로-XRF는 현재 이용 가능한 가장 포괄적인 재료 조성 및 구조 분석 기능을 제공합니다. 이러한 모든 기술이 ESPRIT 소프트웨어에 완벽하게 통합되어 있어, 상호 보완적인 방법들로 얻은 데이터를 손쉽게 결합하여 최상의 결과를 얻을 수 있습니다.

분석 소프트웨어

소프트웨어: ESPRIT Family

ESPRIT 2는 세 가지 분석 방법을 하나의 사용자 인터페이스에 통합합니다. 여기에는 SEM용 EDS 및 (S)TEM, SEM 및 EBSD용 마이크로-XRF가 포함됩니다.

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ESPRIT CUBE 소프트웨어

ESPRIT QUBE는 전자 현미경에 EBSD 및/또는 EDS로 획득한 데이터의 3D 시각화 및 후처리를 위한 현대적인 분석 소프트웨어입니다.

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SEM EDS map of minerals with automated false colouring of mineral deposits created using AMICS software

AMICS: Automated Mineralogy Software

AMICS is a complete system for advanced mineral identification and characterization, giving users the ability to quickly and accurately collect data and match minerals using an extended database.

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원소 분석 및 미세 분석에 대해 자세히 알아보기

EDS - An Introduction to Energy Dispersive Spectroscopy

EDS is a common microanalytical technique used for the elemental analysis of samples under an electron microscope. Find out more about how EDS works and how it can be used!

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EBSD - An Introduction to Electron Backscatter Diffraction

EBSD is powerful, SEM-based technique used to determine a material's microstructure. Find out here the science behind EBSD and what is possible using the latest detector technology.

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Trace Element Map of Ore - Zinc, Iron, Lead, Cadmium

Full Range EDS - Augmenting EDS with micro-XRF

Full Range EDS allows users to overcome the limits of conventional EDS. Using a Full Range EDS system trace element analysis, layer analysis and the identification of high-energy elemental lines is possible.

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EDS map showing Ta and Si distribution - the results are similar to those acheived using WDS and are collected in less time.

Analytical Alternatives to WDS for Elemental Analysis on SEM

Many researchers use Wavelength Dispersive Spectroscopy (WDS) to overcome challenges such as elemental peak overlaps, low signal intensities or to perform analysis at low kV.

Developments in EDS peak deconvolution routines in conjunction with modern windowless detectors and micro-XRF on SEM now mean that these challenges can be overcome without the limitations of WDS analysis.

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