Analisadores de Microscópio Eletrônico

Latest XFlash 7 EDS Detector Series

NEW XTRACE 2 - Micro-XRF ON SEM

Discover Full Range EDS

Gama exclusiva de ferramentas analíticas para microscópios eletrônicos

Os analisadores de microscópio eletrônico da Bruker EDS, WDS, EBSD e Micro-XRF em SEM oferecem a análise estrutural e composicional mais abrangente de materiais disponíveis atualmente. A integração total de todas essas técnicas no software ESPRIT 2 permite combinar facilmente os dados obtidos por esses métodos complementares para obter melhores resultados.

Bruker’s electron microscope analyzers EDS, WDS, EBSD and Micro-XRF on SEM

QUANTAX EBSD eFlashHD BRUKER

QUANTAX EBSD

O sistema QUANTAX EBSD com seu popular cabeçote detector OPTIMUS 2 é a melhor solução disponível para analisar nanomateriais no SEM

XFlash 760 EDS spectrometer

QUANTAX EDS for SEM

O EDS mais avançado para seu SEM, FIB e EPMA

XFlash 7T60 EDS for TEM detector

QUANTAX EDS for TEM

Espectrômetro de raios X dispersivos de energia para STEM, TEM e T-SEM

XFlash FlatQUAD

QUANTAX FlatQUAD

Máxima Eficiência na Detecção de Raios-X

XTrace 2 micro-spot X-ray source

QUANTAX Micro-XRF

Sensibilidade altamente elementar com preparação de amostra mínima

XSense WDS spectrometer

QUANTAX WDS

Instrumento de alta precisão para microanálise de raios X ultra-sensível e de alta resolução na faixa de baixa energia.

Software de Análise

ESPRIT screenshot

Software: ESPRIT Family

O ESPRIT 2 une quatro métodos analíticos em uma única interface de usuário. Estes incluem EDS para SEM e (S)TEM, WDS, Micro-XRF para SEM e EBSD.

ESPRIT QUBE Software

ESPRIT QUBE é um software analítico moderno para visualização 3D e-processamento de dados adquiridos comEBSD e/ou EDS em dispositivos eletrônicos pós.

AMICS screenshot

AMICS Automated Mineralogy System for SEM

Varredura rápida automatizada para caracterização de minerais e rochas por SEM

Discover the World of Elemental- & Microanalysis

New EDS Banner - Darker

EDS - An Introduction to Energy Dispersive Spectroscopy

EDS is a common microanalytical technique used for the elemental analysis of samples under an electron microscope. Find out more about how EDS works and how it can be used!

Trace Element Map of Ore - Zinc, Iron, Lead, Cadmium

Increasing the Energy Range and Sensitivity of EDS with micro-XRF

Full Range EDS, i.e. the addition of a micro-XRF source to an EDS system, allows users to overcome the limits of conventional EDS. Using a Full Range EDS system trace element analysis, layer analysis and the identification of high-energy elemental lines is possible.