Analysesysteme für Elektronenmikroskope

Einzigartige Auswahl an Analysemethoden für Elektronenmikroskope

Die Elektronenmikroskop-Analysesysteme von Bruker – EDS, EBSD und Mikro-XRF am REM – bieten die derzeit umfassendste Analyse von Materialzusammensetzung und -struktur. Durch die vollständige Integration all dieser Verfahren in die ESPRIT-Software können Sie die mit diesen sich ergänzenden Methoden gewonnenen Daten problemlos kombinieren, um optimale Ergebnisse zu erzielen.

Analysesoftware

Software: ESPRIT Familie

ESPRIT 2 vereint drei Analysemethoden unter einer einzigen Benutzeroberfläche. Dazu gehören EDS für REM und (S)TEM, mikro-RFA für REM und EBSD.

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ESPRIT QUBE Software

ESPRIT QUBE ist eine moderne Software für die erweiterte 3D EBSD- und EDS-Datennachbearbeitung und Visualisierung.

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SEM EDS map of minerals with automated false colouring of mineral deposits created using AMICS software

AMICS: Automated Mineralogy Software

AMICS is a complete system for advanced mineral identification and characterization, giving users the ability to quickly and accurately collect data and match minerals using an extended database.

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Erfahren mehr über Element- und Mikroanalyse

EDS - An Introduction to Energy Dispersive Spectroscopy

EDS is a common microanalytical technique used for the elemental analysis of samples under an electron microscope. Find out more about how EDS works and how it can be used!

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EBSD - An Introduction to Electron Backscatter Diffraction

EBSD is powerful, SEM-based technique used to determine a material's microstructure. Find out here the science behind EBSD and what is possible using the latest detector technology.

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Trace Element Map of Ore - Zinc, Iron, Lead, Cadmium

Full Range EDS - Augmenting EDS with micro-XRF

Full Range EDS allows users to overcome the limits of conventional EDS. Using a Full Range EDS system trace element analysis, layer analysis and the identification of high-energy elemental lines is possible.

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EDS map showing Ta and Si distribution - the results are similar to those acheived using WDS and are collected in less time.

Analytical Alternatives to WDS for Elemental Analysis on SEM

Many researchers use Wavelength Dispersive Spectroscopy (WDS) to overcome challenges such as elemental peak overlaps, low signal intensities or to perform analysis at low kV.

Developments in EDS peak deconvolution routines in conjunction with modern windowless detectors and micro-XRF on SEM now mean that these challenges can be overcome without the limitations of WDS analysis.

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