QUANTAX EDS für TEM
Einzelatome und Nanostrukturen
Bestmögliche Ergebnisse für jedes spezifische Mikroskop
Elementanalyse im Transmissionselektronenmikroskop auf der Nanometerskala
Flexible und einfach zu bedienende Analysesoftware ESPRIT mit offener Benutzeroberfläche: Sie sehen, was Sie tun.
Offline-Analyseoption mit Einzel- oder LAN-Zugriff für Studenten- oder Labornetzwerke.
Diese durchdachte, bewährte quantitative energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) Software für vollständiges Data Mining umfasst:
- Optionen für Quantifizierungsschritte: Standardvorschläge für einfache Verwendung, individuelle Einrichtung, detaillierte Änderung und Speichern/Neuladen von Rezepten
- 3 verschiedene Quantifizierungsansätze decken alle möglichen Szenarien ab, basierend auf theoretischen und experimentellen Cliff-Lorimer-Faktoren sowie Zeta-Faktoren und der Interpolation fehlender Zeta-Faktoren
- TEM-spezifische hochenergetische Elementlinien über 40 keV sind für die Quantifizierung verfügbar, um eindeutige Ergebnisse zu gewährleisten
- Auswahl von 3 wichtigen Hintergrundmodellen: ein physikalisches für Bulk-Proben, ein physikalisches für dünne Lamellen sowie ein mathematisches Modell
- Absorptionskorrektur bereits in der Cliff-Lorimer-Quantifizierung enthalten
Hochauflösende Elementverteilungsanalyse von elektronentransparenten Proben in TEM, STEM und REM (T-REM)
- Langjährige EDS-Erfahrung gewährleistet die Konfiguration der besten Lösung angepasst an das konkrete Mikroskop (STEM, TEM oder REM) durch slim-line Detektordesign und geometrische Optimierung für jeden Mikroskop-Polschuh und EDS-Flanschtyp
- Maximaler Raum- und Abnahmewinkel ermöglichen eine schnelle und hochempfindliche Datenerfassung
- Schnelle und stabile Verfahreinheit des Detektors (tragen zur Langlebigkeit und Auflösung des EDS-Systems bei)
- Eine spezielle Driftkorrekturroutine für periodische Strukturen sorgt für präzise EDS-Mappings auch auf der Nanoskala
- Zeitaufgelöste Datenerfassung für In-situ-Messungen, geeignet zum Speichern eines sich ändernden Datenstroms, z.B. bei Heizexperimenten
- Automatisierung von Datenerfassungs- und Analyseprozessen unter Verwendung der Skript- und API-Optionen zur Erstellung spezifischer Analyseabläufe und Stapelverarbeitung
- Unverfälschte Daten, die keine oder nur minimale Nachbearbeitung erfordern, da mechanische und elektromagnetische Interferenzen vollständig vermieden werden und Probenneigung, Absorption, Abschattung und System-Peaks auf ein Minimum reduziert werden
- Die bewährte EDS-Daten-Quantifizierung von elektronentransparenten Proben bietet gründliches Data Mining mit eindeutigen Ergebnissen
- Schöpfen Sie das Potential Ihres EDS-Systems voll aus – dabei können Sie auf unsere langjährige Erfahrung in der TEM EDS Analytik bauen. Wir setzen Standards bei der Qualität der Unterstützung und Schulung
Ultimative Ergebnisse mit den neuen XFlash® 7 EDS-Detektoren für TEM
EDS-Analysen von beschichteten Lithium-Ionen-Batterie-Kathodenpartikeln
Die Kapazitätserhaltung von NCM-Kathodenmaterial von Batterien (SSB – Solid-State Battery und LIB – Lithium-Ionen-Batterie) kann durch die Beschichtung von Strukturen verbessert werden. Um die Leistung dieser nanometerdicken Beschichtungen zu kontrollieren, muss ihre Elementverteilung bekannt sein. Wir stellen eine REM-basierte Lösung der EDS-Analyse vor, die eine Nanometerauflösung auf mikrometergroßen Kathodenpartikeln mit unregelmäßigen Oberflächen erreicht, und vergleichen sie mit TEM EDS.
