EDS-Detektoren

XFlash-Detektoren für die energiedispersive Röntgenspektroskopie

Unsere EDS-Detektoren entdecken, darunter den XFlash 7 für die Live-Elementverteilungsbildern und den XFlash FlatQUAD, den ringförmigen EDS-Detektor für hochauflösende Elementanalysen bei niedrigen kV.

XFlash 7 EDS detector series element analysis EDS

XFlash^® 7 - The Latest EDS Detector Series

Bruker’s latest generation of QUANTAX EDS systems feature the XFlash^®7 detector series, providing the largest solid angle, highest throughput and highest take-off angle for X-ray collection on electron microscopes

XFlash FlatQUAD annular EDS detector head

XFlash^®FlatQUAD - Annular EDS Detector

XFlash^® FlatQUAD is a novel EDS detector designed for maximum signal collection, opening up new application areas for EDS.

XFlash_6_100_oval_white_bg

XFlash 7T100oval

Das High Collection Angle EDS System für MINT

XFlash 7100oval EDS Detector

XFlash® 7100oval

Das High Collection Angle Windowless EDS System für SEM, FIB-SEM und STEM-in-SEM

Komplettlösungen für die energiedispersive Röntgenspektroskopie

Unsere XFlash 7-Detektoren sind auch in unseren QUANTAX-Systemen zu finden – kompletten Analyselösungen, die alles enthalten, was Sie für die Durchführung von EDS-Analysen benötigen, einschließlich Detektor, Software und Hardware.

XFlash 6/30 EDS Spektrometer

QUANTAX EDS für REM

Die Lösung für Ihre analytische Herausforderung - EDS für REM, FIB-REM und Mikrosonde

XFlash 7T60 EDS für TEM-Detektor

QUANTAX EDS für TEM

Energiedispersives Röntgenspektrometer für STEM, TEM und T-SEM

XFlash FlatQUAD

QUANTAX FlatQUAD

Höchste Effizienz bei der Röntgendetektion

XFlash® 730M SD-Detektor

QUANTAX Compact

QUANTAX Compact besteht aus einem XFlash® 730M Silizium-Driftdetektor (SDD), einer kompakten Elektronikeinheit und der intuitiven Software ESPRIT Compact.

QUANTAX ED-XS EBSD EDS

QUANTAX ED-XS

QUANTAX ED-XS ist ein neues System, das den neuen und einzigartigen eFlash XS EBSD Detektor mit dem zuverlässigen XFlash EDS Detektor in der vielseitigen ESPRIT 2 Software kombiniert.

XFlash® silicon drift detector in an integrated solution for a benchtop SEM

EDS Solutions for Benchtop SEMs

Integrated turn‑key EDS solutions for benchtop electron microscopes, featuring XFlash^®detectors and compatibility with a wide range of benchtop SEM models.

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