전자 현미경 분석기

TEM을 위한 콴탁스 EDS

STEM, TEM 및 T-SEM용 에너지 분산 X선 분광계

나노 스케일 원소 매핑

정량적 요소 매핑

하이라이트

>15
TEM의 실리콘 드리프트 검출기 경험
검출기 재료 및 구동 전자 장치는 빠르고 정확하며 신뢰할 수 있는 데이터 수집을 위해 설계되었으며 원자 해상도에서도 고급 TEM 성능에 간섭하지 않습니다.
80
케빈
요소 ID 및 정량화에 대한 전례 없는 상부 에너지 제한
TEM 특이적 고에너지 전자와 따라서 정량적 EDS에 대한 더 높은 에너지 소자 라인
1
원자
단일 원자 ID 및 원자 열 매핑
하이 엔드 고형색 고휘도 고휘도 콜드 FEG 수차 보정 STEM과 결합된 고체 각도 XFlash 6T 검출기를 사용하여 몇 초 이내에 단일 원자 식별

나노미터 스케일의 TEM, STEM 및 SEM(T-SEM)의 EDS 엘리먼트 매핑

선명한 다목적 측정 설정과 슬림한 지오메트리는 일상적으로 신뢰할 수 있는 TEM EDS 데이터를 빠르게 보장합니다. 하이퍼스펙트럼 이미지는 소위 하이퍼맵 또는 스펙트럼 이미지를 사용하여 획득됩니다. 정확한 정량 분석에 필요한 픽셀당 스펙트럼 및 모든 메타 데이터는 검사 및 처리를 위해 저장됩니다.

  • 각 현미경 극 조각 유형에 대한 슬림 라인 디자인 과 기하학적 최적화는 최대의 수집 및 이륙 각도를 보장합니다.
  • 시편 기울기, 흡수, 섀도우 및 시스템 피크를 방지하는 데 도움이 됩니다.
  • 특히 경원 요소의 K 라인과 L-, M-및 더 높은 Z-요소라인의 저에너지 영역에서 검출 효율을 더욱 높이기 위한 창없는 검출기.
  • 기본적으로 자동 철회 및 사용자 지정은 긴 검출기 수명과 다재다능한 실험을 보장합니다.
  • 화학적 변화가 실시간으로 기록되는 재료 가열과 같은 인-시투 및 오페라 내 실험의 자동모니터링.
  • 데이터 분석을 위한 포괄적인 소프트웨어 제품군 ESPRIT.

혜택

온라인 및 오프라인 TEM EDS용 소프트웨어

TEM을 위한 QUANTAX EDS에는 유연하고 투명한 분석 소프트웨어 패키지 ESPRIT가포함되어 있습니다. 기본 및 조정 가능한 방법을 사용하면 요소 매핑, 소위 HyperMaps 또는 스펙트럼 이미지 및 정량적 요소 맵 생성의 빠르고 포괄적인 데이터 마이닝이 가능합니다. 스펙트럼, 개체, 선 스캔 및 요소 매핑에 대한 표준 기반 및 표준 없는 정량화 루틴뿐만 아니라 PCA 기반 위상 분석 및 자동화된 통계 적 부분 분석이 포함됩니다.

  • 학생 또는 실험실 네트워크를 위한 개인 하드웨어 키 및/또는 LAN 옵션이 있는 오프라인 분석 소프트웨어입니다.
  • 개방형 투명 사용자 인터페이스: 표시되는 것은 사용자가 얻는 것입니다.
  • EDS 데이터에 대한 정량화 루틴의 설정, 수정 및 저장/재부하를 지웁다.
  • 전자 투명 표본을 위한 두 가지 정량화 방법: 절벽-로리머-및 제타-팩터-방법.
  • 이론적 절벽-로리머 팩터는SEM(SEM의 TEM)에대한 저전압을 포함하여 모든 전압에 대해 계산할 수 있으며, 이는 꾸준히 업데이트된 대규모 원자 데이터 베이스를 이용하여 산출될 수 있습니다.
  • 표준 표본을 사용하여 실험적인 Cliff-Lorimer 및 Zeta-Factors를 쉽게 소프트웨어 유도 교정합니다.
  • 모든 요소에 대한 Zeta 계수는 기존 Cliff-Lorimer-Factors를 사용하여 몇 가지 요소 표준에서만 계산할 수 있습니다.
  • 배경 모델의 선택 : 전자 투명 및 대량 표본뿐만 아니라 수학 배경 계산을위한 물리적 모델.
  • 다른 템플릿으로 생성을 보고합니다.

응용

분석 도전이란 무엇입니까?