XTrace 2 - Die Röntgenquelle für Mikro-RFA am REM

50
W
Leistung der Röntgenröhre
Verkürzen Sie Ihre Erfassungszeit mit Hochleistungs-Röntgenerzeugung
AMS
Blenden-Management-System
Scannen Sie topografische Proben mit erhöhter Schärfentiefe und wählen Sie zwischen 6 Filtern für eine weitere Hintergrundreduzierung und eine verbesserte Spurenelementerkennung 
Automatisiert
Einfüge- und Rückzugsmodus der Quelle
Automatisches und sicheres Ein- und Ausfahren der röntgenoptischen Quelle

XTrace 2 - Die neueste Röntgenquelle für Rasterelektronenmikroskope

Analysieren Sie leichte und schwere Elemente schnell mit hochenergetischer Röntgenstrahlung! 

Bestimmen Sie kleine Peaks in komplexen Proben durch Auswahl von bis zu 6 Filtern! 

Scannen Sie topographische Proben mit einem patentierten Aperture Management System!  

Genaue Analyse von Pulvern durch große Spotgrößenmessungen! 

Automatisieren Sie Ihren Analyseprozess mit motorisiertem Einsetzen und Zurückziehen der Quelle! 

XTrace 2 - Fortschrittliche Röntgenquelle für Mikro-RFA auf REM

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