XTrace 2 - Neue Röntgenquelle für Rasterelektronenmikroskope

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Leistung der Röntgenröhre

Verkürzen Sie Ihre Erfassungszeit mit Hochleistungs-Röntgenerzeugung

AMS

Blenden-Management-System

Scannen Sie topografische Proben mit erhöhter Schärfentiefe und wählen Sie zwischen 6 Filtern für eine weitere Hintergrundreduzierung und eine verbesserte Spurenelementerkennung

Automatisiert

Einfüge- und Rückzugsmodus der Quelle

Automatisches und sicheres Ein- und Ausfahren der röntgenoptischen Quelle

XTrace 2 - Die neueste Röntgenquelle für Rasterelektronenmikroskope

Analysieren Sie leichte und schwere Elemente schnell mit hochenergetischer Röntgenstrahlung!

Bestimmen Sie kleine Peaks in komplexen Proben durch Auswahl von bis zu 6 Filtern!

Scannen Sie topographische Proben mit einem patentierten Aperture Management System!

Genaue Analyse von Pulvern durch große Spotgrößenmessungen!

Automatisieren Sie Ihren Analyseprozess mit motorisiertem Einsetzen und Zurückziehen der Quelle!

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XTrace 2 - Fortschrittliche Röntgenquelle für Mikro-RFA auf REM

Webinare

Elemental map of the different light elements present in a mineral

Introducing XTrace 2 the Next-Generation for Enhanced Micro-XRF on SEM

In this webinar we will introduce you XTrace 2, a new X-ray source for micro-XRF on SEM which takes its analytical capabilities further than ever before.

XTrace 2 expands the capabilities of micro-XRF on SEM, allowing a wider variety of samples to be analyzed, such as topographic samples and inhomogeneous samples. Join us in this webinar to explore the potential of micro-XRF on SEM with XTrace 2 across a range of different applications.

View On Demand

Elemental map of the different light elements present in zirconium boride particles that are embedded into an epoxy resin

An Introduction to micro-XRF on SEM

The fourth webinar in our "Back to the Roots" Series, focusing on the fundamentals of micro-XRF.

This webinar demonstrates the benefits of having a micro-XRF source mounted on your SEM with examples from across a wide range of applications, incorporating both element distribution mapping as well as quantification, including trace elements.

View On Demand

XTrace 2 - Die Röntgenquelle für Mikro-RFA am REM

XTrace 2 - Die neueste Röntgenquelle für Rasterelektronenmikroskope

Webinare

Introducing XTrace 2 the Next-Generation for Enhanced Micro-XRF on SEM

An Introduction to micro-XRF on SEM

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