XTrace 2 - SEM内マイクロXRF用X線源

X線管出力

高出力X線で測定時間を短縮

AMS

アパーチャマネジメントシステム

凹凸試料も深い焦点深度で測定。6枚のフィルターを切り替えてバックグラウンドを抑制し、微量元素を検出。

自動

光源の挿入および退避

自動で安全なX線光学系移動

XTrace 2 - SEM用新世代X線源

QUANTAX マイクロXRFシステム用新世代X線源～ SEM内マイクロXRFの可能性をさらに広げます:

高エネルギーX線励起で軽元素も重元素も素早く分析
6枚の1次フィルタを切り替えて複雑な試料の微小ピークを検出
アパーチャマネジメントシステムにより凹凸試料も測定可能
スポットサイズを大きくすることで粉末試料も正確に分析
電動ステージによる挿入/退避機能により測定を自動化

お問い合わせフォーム QUANTAX マイクロXRF 製品ページ

XTrace 2 - SEM内マイクロXRF用最新X線源

ウェビナー

Elemental map of the different light elements present in a mineral

Introducing XTrace 2 the Next-Generation for Enhanced Micro-XRF on SEM

In this webinar we will introduce you XTrace 2, a new X-ray source for micro-XRF on SEM which takes its analytical capabilities further than ever before.

XTrace 2 expands the capabilities of micro-XRF on SEM, allowing a wider variety of samples to be analyzed, such as topographic samples and inhomogeneous samples. Join us in this webinar to explore the potential of micro-XRF on SEM with XTrace 2 across a range of different applications.

View On Demand

Elemental map of the different light elements present in zirconium boride particles that are embedded into an epoxy resin

An Introduction to micro-XRF on SEM

The fourth webinar in our "Back to the Roots" Series, focusing on the fundamentals of micro-XRF.

This webinar demonstrates the benefits of having a micro-XRF source mounted on your SEM with examples from across a wide range of applications, incorporating both element distribution mapping as well as quantification, including trace elements.

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