XTrace 2 - 주사전자현미경을 위한 새로운 X선 소스

50

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X선관 동력

고출력 X-ray 생성으로 획득 시간 단축

증권 시세 표시기

조리개 관리 시스템

향상된 피사계 심도로 지형 샘플을 스캔하고 6개의 필터 중에서 선택하여 배경 감소를 추가로 줄이고 미량 원소 검출 을 강화합니다.

자동

소스 삽입 및 리트랙션 모드

X선 광학 광원을 자동으로 안전하게 삽입 및 수축

XTrace 2 - 주사전자현미경을 위한 최신 X선 소스

고에너지 X-ray로 가볍고 무거운 원소를 빠르게 분석하십시오!

최대 6개의 필터를 선택하여 복잡한 시료에서 작은 피크를 측정할 수 있습니다!

특허받은 조리개 관리 시스템을 사용하여 지형 샘플을 스캔하십시오!

대형 스폿 크기 측정을 통해 분말을 정확하게 분석합니다!

전동식 소스 삽입 및 리트랙팅으로 분석 프로세스를 자동화하십시오!

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XTrace 2 - SEM에서 마이크로 XRF를 위한 고급 X선 소스

웨비나

Elemental map of the different light elements present in a mineral

Introducing XTrace 2 the Next-Generation for Enhanced Micro-XRF on SEM

In this webinar we will introduce you XTrace 2, a new X-ray source for micro-XRF on SEM which takes its analytical capabilities further than ever before.

XTrace 2 expands the capabilities of micro-XRF on SEM, allowing a wider variety of samples to be analyzed, such as topographic samples and inhomogeneous samples. Join us in this webinar to explore the potential of micro-XRF on SEM with XTrace 2 across a range of different applications.

View On Demand

Elemental map of the different light elements present in zirconium boride particles that are embedded into an epoxy resin

An Introduction to micro-XRF on SEM

The fourth webinar in our "Back to the Roots" Series, focusing on the fundamentals of micro-XRF.

This webinar demonstrates the benefits of having a micro-XRF source mounted on your SEM with examples from across a wide range of applications, incorporating both element distribution mapping as well as quantification, including trace elements.

View On Demand

XTrace 2 - SEM에서 마이크로 XRF를 위한 X선 소스

XTrace 2 - 주사전자현미경을 위한 최신 X선 소스

웨비나

Introducing XTrace 2 the Next-Generation for Enhanced Micro-XRF on SEM

An Introduction to micro-XRF on SEM

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