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布鲁克的电子显微镜分析仪——包括EDS、EBSD以及用于SEM的微区XRF——提供了目前最全面的材料成分和结构分析能力。所有这些技术均已完全集成到ESPRIT软件中,使您能够轻松整合这些互补方法的数据,从而获得最佳分析检测结果。
XFlash FlatQUAD 2L 是一款独具特色、行业领先的能量色散 X 射线光谱(EDS)探测器,采用环形四通道结构设计,最大化信号收集效率,为 EDS 技术开辟全新应用领域。
全新一代 XFlash FlatQUAD 探测器扩大了中心通孔的孔径,在不影响其高达 4,000,000 cps 这一行业领先输出计数率的前提下,实现了与背散射电子(BSE)成像的同步采集。
许多研究人员采用波长色散光谱(WDS)来解决元素谱峰重叠、信号强度低以及低加速电压分析等挑战。
如今,随着 EDS 谱峰解卷积算法的发展,以及现代无窗 EDS 探测器和 SEM 微区 XRF 技术的应用,这些挑战无需借助 WDS 分析即可得到有效解决,同时还能避免 WDS 分析本身的局限性。