Bruker
产品与解决方案 应用 服务与支持 新闻和活动 关于我们 职业
请至少输入2个字符 (您当前输入的是1个字符) 。

Languages

电子显微镜分析仪

EWARP：更快的EBSD探测器
XTRACE 2：用于SEM的微区XRF
XFlash 7：EDS探测器系列

电子显微镜上的分析工具

布鲁克的电子显微镜分析仪——包括EDS、EBSD以及用于SEM的微区XRF——提供了目前最全面的材料成分和结构分析能力。所有这些技术均已完全集成到ESPRIT软件中，使您能够轻松整合这些互补方法的数据，从而获得最佳分析检测结果。

用于 QUANTAX EBSD 的 eWARP 探测器

QUANTAX EBSD

配备 eWARP 系列探测器的 QUANTAX EBSD——依托我们屡获殊荣的 WARP 技术，可实现超快速、超高灵敏度的 EBSD 和 TKD 分析。
阅读更多
XFlash 7 EDS 光谱仪

SEM QUANTAX EDS

您 SEM、FIB 和 EPMA 上最先进的 EDS
阅读更多
XFlash 7T EDS 用于 TEM 探测器

TEM QUANTAX EDS

用于STEM、TEM 和 T-SEM 的 EDS
阅读更多
XFlash 平地

QUANTAX FlatQUAD

实现 X 射线检测的最高效率，并具备并行 BSE 成像能力。

QUANTAX FlatQUAD 采用我们独有的年度 4 通道 XFlash® FlatQUAD 2L EDS 探测器，让即使是最具挑战性的分析也能轻松完成。

阅读更多
XTrace 2 micro-XRF产品图

QUANTAX Micro-XRF

用于 SEM XRF 的 QUANTAX Micro-XRF。痕量元素灵敏度、薄膜分析和地形样品的元素图谱，所有这些都只需进行最少的样品制备。
阅读更多

分析软件

ESPRIT 2 屏幕截图

软件： ESPRIT 系列

ESPRIT 2 在单一用户界面中集成了三种分析方法。其中包括用于 SEM 的 EDS 和 （S）TEM、WDS、用于 SEM 的微型 XRF 和 EBSD。
阅读更多
埃斯普里特 · 库贝

ESPRIT QUBE 软件

ESPRIT QUBE 是用于高级 3D EBSD 和 EDS 数据后处理和可视化分析的现代软件平台。它具有最先进的分析软件，可以对电子显微镜上使用 EBSD 和/或 EDS 采集的数据进行 3D 可视化和数据后处理。
阅读更多
采用AMICS软件生成的矿物SEM EDS图，对矿床进行自动伪彩色处理

AMICS：自动化矿物学软件

AMICS是一款先进的矿物识别与表征系统，可实现快速精准的数据采集与矿物匹配。
阅读更多

了解更多关于元素分析和微分析的信息

New EDS Banner - Darker

EDS - An Introduction to Energy Dispersive Spectroscopy

EDS is a common microanalytical technique used for the elemental analysis of samples under an electron microscope. Find out more about how EDS works and how it can be used!
阅读更多
what-is-ebsd-map-example

EBSD - An Introduction to Electron Backscatter Diffraction

EBSD is powerful, SEM-based technique used to determine a material's microstructure. Find out here the science behind EBSD and what is possible using the latest detector technology.
阅读更多
Trace Element Map of Ore - Zinc, Iron, Lead, Cadmium

Full Range EDS - Augmenting EDS with micro-XRF

Full Range EDS allows users to overcome the limits of conventional EDS. Using a Full Range EDS system trace element analysis, layer analysis and the identification of high-energy elemental lines is possible. 
阅读更多
EDS map showing Ta and Si distribution - the results are similar to those acheived using WDS and are collected in less time.

Analytical Alternatives to WDS for Elemental Analysis on SEM

许多研究人员采用波长色散光谱（WDS）来解决元素谱峰重叠、信号强度低以及低加速电压分析等挑战。

如今，随着 EDS 谱峰解卷积算法的发展，以及现代无窗 EDS 探测器和 SEM 微区 XRF 技术的应用，这些挑战无需借助 WDS 分析即可得到有效解决，同时还能避免 WDS 分析本身的局限性。

阅读更多
WDS map showing the elemental distribution of boron and carbon within a sample

WDS - An Introduction to Wavelength Dispersive Spectroscopy

WDS is an alternative technique for the elemental analysis and mapping of samples that provides an enhanced spectral resolution and signal-to-noise ratio. Find out more about the theory and uses of WDS in this article!
阅读更多

联系