Identificación de fase y análisis de distribución de materiales que contienen entre múltiples fases poco conocidos

1.1: Mapa de calidad de patrón que representa la microestructura de compuesto cerámico Fe-Si altamente aleado; Los mapas EBSD y EDS se adquirieron simultáneamente utilizando eFlash XS y respectivamente el detector XFlash EDS montado en JSM IT200 SEM.

QUANTAX ED-XS es un sistema EDS & EBSD totalmente integrado que permite una amplia gama de tipos de análisis utilizando EDS o EBSD solo o involucrando ambas técnicas simultáneamente. Las capacidades innovadoras y potentes combinadas con un flujo de trabajo optimizado simplifican el proceso de adquisición de datos y maximizan la eficiencia sem para análisis como la identificación de fases cristalográficas desconocidas presentes en una muestra.

El uso de SEM se minimiza adquiriendo simultáneamente un mapa EBSD y un HyperMap EDS sin tener que conocer todas las fases actuales. El mapa que contiene datos EDS y EBSD se procesa posteriormente sin conexión para identificar todas las fases presentes y completar el mapa utilizando la velocidad de reanálisis ultrarrápida ESPRIT 2'de una manera cómoda y eficiente.