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Phasenidentifikation und Phasenverteilungsanalyse von mehrphasigen Materialien

Abb. 1.1: Pattern-Quality-Map, das die Mikrostruktur einer hochlegierten Fe-Si-Verbundkeramik zeigt. Die EBSD- und EDS-Maps wurden gleichzeitig mit dem eFlash XS EBSD Detektor und einem XFlash EDS Detektor am JSM IT200 REM aufgenommen.

QUANTAX ED-XS ist ein vollständig integriertes EDS & EBSD-System, das eine Vielzahl von Analyseoptionen bietet, die entweder mit EDS oder EBSD separat arbeiten oder beide Techniken gleichzeitig einsetzen. Innovative und leistungsstarke Funktionen in Kombination mit einem optimierten Workflow vereinfachen den Datenerfassungsprozess und maximieren die Effizienz des Rasterelektronenmikroskops für Analysen wie die Identifizierung unbekannter kristallographischer Phasen in einer Probe.

Durch die gleichzeitige Erfassung eines EBSD-Maps und eines EDS-HyperMaps ohne Kenntnis der vorhandenen Phasen wird die REM-Nutzungszeit minimiert. Das Map mit den EDS- und EBSD-Daten wird anschließend offline bearbeitet, um alle Phasen zu identifizieren und das Map mit der ultraschnellen Reanalysegeschwindigkeit von ESPRIT 2 auf komfortable und effiziente Weise zu analysieren.