Características auxiliares inducidas por límites en la espectroscopia infrarroja de dispersión de tipo cercano Fourier Transform

En este artículo, los autores combinaron imágenes de un solo número de onda s-SNOM y nanospectroscopia de infrarrojos de dispersión de banda ancha para proporcionar nuevas perspectivas sobre los fonones-polaritons (PhP) en cristales estratificados de nitruro de boro hexagonal (hBN) en obleas SiO2/Si. Específicamente, utilizando la fuente láser IR de banda ancha de alta potencia en su instrumento nanoIR-3s, los autores fueron capaces de resolver cuantitativamente múltiples grupos de picos auxiliares en los espectros de amplitud de campo cercano que no se han observado previamente.

Al estudiar sistemáticamente sobre una variedad de condiciones límite diferentes, se observaron e identificaron diferencias entre las firmas auxiliares de campo cercano cuando se admitieron o suspendieron las capas de hBN. Las diferencias observadas se atribuyen a la interferencia entre el borde del micropocillos y el borde hBN, dependiendo de las distancias desde los bordes. Tener esta información sobre estos límites localizados puede ser útil para la ingeniería y la creación de heteroestructuras nanofotónicas para aplicaciones de detección avanzadas.