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Difracción de Rayos-X (XRD) y Scattering

Caracterización no-destructiva de propiedades de los materiales

El catálogo de equipos Bruker de Difracción de Rayos X y Scattering permite el análisis detallado de cualquier material desde la investigación fundamental hasta control de calidad, proporcionando soluciones avanzadas para el día a día de nuestros clientes. Las aplicaciones de estas técnicas cualitativas y cuantitativas incluyen:

  • Identificación de Fases
  • Análisis Cuantitativo
  • Determinación de Estructura Cristalina
  • Análisis PDF (total scattering)
  • Dispersión de rayos X a bajo ángulo (SAXS)
  • Reflectrometría de Rayos X (XRR)
  • Difracción de Rayos X de Alta Resolución (HRXRD)
  • Mapeo en el Espacio Recíproco (RSM)
  • Estrés Residual
  • Textura (figuras de polo)

 

Para mayor información por favor ver nuestro archivo PDF en Difracción de Rayos-X o en contacto con nosotros.