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Difracción de Rayos-X (XRD) y Scattering

Caracterización no-destructiva de propiedades de los materiales

El catálogo de equipos Bruker de Difracción de Rayos X y Scattering permite el análisis detallado de cualquier material desde la investigación fundamental hasta control de calidad, proporcionando soluciones avanzadas para el día a día de nuestros clientes. Las aplicaciones de estas técnicas cualitativas y cuantitativas incluyen:

 

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