Porte-échantillons pour la DRX
Bruker AXS propose de nombreuses solutions dédiées aux différents types d´échantillons. Celles-ci sont adaptées aux exigences analytiques et garantissent la meilleure qualité de données possible.
Contrairement à diverses méthodes complémentaires, la diffraction des rayons X ne nécessite aucune préparation complexe de l’échantillon. Toutefois, selon la consistance de celui-ci, son volume ou d’autres propriétés, un porte-échantillon approprié est requis.
Porte-échantillons disponibles
Porte-échantillons pour la poudre
Porte-échantillons pour la poudre
Porte-échantillon à chargement par l´arrière
Porte-échantillon à chargement par l´arrière
Porte-échantillon pour filtre
Porte-échantillon pour filtre
Porte-échantillon Silicium à bas bruit de fond
Porte-échantillon Silicium à bas bruit de fond
Porte-échantillon pour lame d’argile
Porte-échantillon pour lame d’argile
Porte-échantillon hermétique à dôme
Porte-échantillon hermétique à dôme
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