Dimension HPI
Dimension HPI
Conçu spécifiquement pour les environnements de production à haut volume, le système Dimension HPI permet d'automatiser les mesures de nombreux modes AFM tout en garantissant la plus grande facilité d'utilisation et le plus faible coût par mesure pour le contrôle qualité, l'assurance qualité et l'analyse des défaillances. En utilisant les modes contact, tapping et PeakForce Tapping, le système Dimension HPI permet aux utilisateurs de contrôler précisément l'interaction entre la sonde et l'échantillon, assurant ainsi une longue durée de vie de la pointe et des résultats de haute précision pour des milliers de mesures.
La Plus Large Gamme de Mesures
Allant des modes exclusifs PeakForce Tapping jusqu'aux modes AFM traditionnels, le système Dimension HPI offre la plus grande variété et flexibilité nécessaires pour répondre aux besoins spécifiques de métrologie de fabrication effectués sur une large gamme d'échantillons, sans la complexité habituellement associée aux configurations de recherche AFM.
Métrologie Nanoélectrique rapide
La technologie FastScan associée à la méthode CAFM (Conductive-AFM) permet d'effectuer des mesures de courant à l'échelle nanométrique à des vitesses de balayage élevées, ce qui augmente considérablement l'efficacité des mesures d'analyse des défaillances. En utilisant un petit levier de microscopie à force magnétique (MFM), le FastScan HPI permet d'améliorer la vitesse de balayage par plus de 10 fois pour les applications MFM avec une qualité de données exceptionnelle grâce à PeakForce Tapping. PeakForce KPFM™ fournit la plus haute résolution spatiale et les mesures les plus précises du potentiel de surface. PeakForce TUNA™ fournit les mesures de conductivité les plus sensibles.
Cartographie Nanomécanique Précise
Les modes de cartographie mécanique à l'échelle nanométrique PeakForce QNM et FastForce Volume™ de Bruker, uniques en leur genre, permettent de cartographier avec précision les propriétés mécaniques - module, rigidité, adhésion, dissipation et déformation - tout en visualisant simultanément la topographie et les propriétés électriques de l'échantillon. PeakForce QNM permet d'effectuer des mesures non destructives sur les polymères, les films minces et les défauts à l'échelle nanométrique non mesurables par les techniques de microcopie électronique à transmission ou à balayage.
Alimenté par le Contrôleur AFM NanoScope 6
Avec des vitesses plus élevées, un bruit plus faible et une plus grande flexibilité du mode AFM, le contrôleur NanoScope 6 permet aux utilisateurs d'exploiter le plein potentiel de nos systèmes AFM à haute performance: Dimension et MultiMode. Ce contrôleur de dernière génération offre une exactitude, une précision et une polyvalence sans précédent pour les mesures de surface à l'échelle nanométrique quelle que soit l'application.
NanoScope 6 permet aux AFM de Bruker d'être uniques en leur genre :
- Opérer avec plus de modes d'imagerie qu'il n'est possible avec les systèmes concurrents, y compris les modes AFM uniques et avancés qui nécessitent un contrôle et une analyse complexes
- Recueillir des données quantitatives précises pour les mesures de propriétés nanoélectriques et nanomécaniques dans toutes les applications
- Optimiser et personnaliser les paramètres de balayage pour répondre aux besoins de mesure les plus exigeants dans le domaine de la recherche et de l'industrie.
