치수 HPI
하이라이트
치수 HPI
대량의 생산 환경을 위해 특별히 설계된 Dimension HPI 시스템은 많은 AFM 모드의 자동화된 측정을 가능하게 하는 동시에 품질 관리, 품질 보증 및 고장 분석을 위해 측정당 최대한의 사용 편의성과 측정당 최저 비용을 보장합니다. 치수 HPI는 접촉, 도청 및 PeakForce 태핑 모드 기술을 사용하여 사용자가 프로브 대 샘플 상호 작용을 정밀하게 제어할 수 있게 해주며, 높은 정확도로 긴 팁 수명을 제공하여 수천 개의 측정을 수행할 수 있습니다.
특징
가장 넓은 범위의 측정
전용 PeakForce 태핑 모드에서 기존 AFM 모드에 이르기까지 Dimension HPI는 AFM 연구 설정과 관련된 복잡성 없이 광범위한 샘플에서 특정 제조 계측 요구를 충족할 수 있는 가장 큰 범위와 유연성을 제공합니다.
빠른 나노 전기 계측
전도성-AFM(CAFM)을 갖춘 FastScan 기술은 높은 스캔 속도로 나노 스케일 전류 측정을 수행할 수 있어 고장 분석 측정의 효율성을 크게 높일 수 있습니다. FastScan HPI는 소형 자기력 현미경 검사법(MFM) 캔틸레버를 사용하여 PeakForce 태핑을 사용하여 뛰어난 데이터 품질을 갖춘 MFM 애플리케이션에 대해 10배 이상의 스캔 속도 향상을 제공합니다. PeakForce KPFM™ 표면 전위의 가장 높은 공간 해상도와 가장 정확한 측정을 제공합니다. 피크포스 TUNA™ 가장 민감한 전도도 측정을 제공합니다.
정밀한 나노 기계 매핑
브루커의 고유한 PeakForce QNM 및 FastForce 볼륨™ 나노스케일 기계 매핑 모드는 계금, 강성, 접착, 분리 및 변형과 같은 기계적 특성을 정확하게 매핑하는 동시에 샘플 지형 및 전기 적 특성을 이미징할 수 있습니다. PeakForce QNM은 송전 전자 또는 스캐닝 전자 현미경 검사 기법에 의해 측정할 수 없는 폴리머, 박막 및 나노 스케일 결함에 대한 비파괴적 측정을 가능하게 합니다.
Powered by the NanoScope 6 AFM Controller
Featuring higher speeds, lower noise, and greater AFM mode flexibility, the NanoScope 6 controller allows users to harness the full potential of our high-performance Dimension and MultiMode AFM systems. This latest generation controller provides unprecedented accuracy, precision, and versatility for nanoscale surface measurements in every application.
NanoScope 6 uniquely enables Bruker AFMs to:
- Operate in more imaging modes than is possible with competing systems, including unique and advanced AFM modes that require complex control and analysis;
- Collect accurate, quantitative data for nanoelectrical and nanomechanical property measurements in every application; and
- Optimize and customize scanning parameters to meet even the most demanding research and industry measurement requirements.
