NanoWizard V NanoScience
NanoWizard® V NanoScience
Le NanoWizard® V combine une haute résolution spatio-temporelle avec une grande zone de balayage, une conception flexible des expériences et une intégration remarquable avec les systèmes de microscopie optique avancés. Son système de configuration, d'alignement et de réajustement automatisé des paramètres du système ouvre de nouvelles possibilités pour les séries d'expériences à long terme et autorégulées.
Découvrez la 5e génération de l'AFM: NanoWizard NanoScience
Le Nanowizard® V établit une nouvelle référence en matière d'automatisation, tout en offrant une multitude de nouvelles capacités techniques et un degré de confort inégalé.
AFM de dernière génération et riche en innovations
Un succès reconnu grâce à un parc de près de 1000 JPK/ NanoWizard AFM Bruker dans le monde entier
Supporté par le développement de levier dédié à l'imagerie haute résolution, au balayage rapide et aux applications personnalisées.
Environnement logiciel V8 intuitif
Une facilité d'utilisation inégalée
Idéal pour les installations d'imagerie multi-utilisateurs
Performance Sans Faille et Productivité Accrue
Le NanoWizard V est un outil exceptionnel pour les nanosciences, il associe de manière unique l'innovation technique aux performances et au confort d'utilisation.
Ouvrir la voie à de nouvelles découvertes scientifiques
- Idéal pour l'étude de la dynamique en temps réel
- Automatisation pour une meilleure productivité et un débit maximal
- Imagerie nanomécanique haute résolution avec PeakForce-QI™, PeakForce Tapping®, PeakForce QNM, et QI
- DirectOverlay pour l'AFM en association avec la microscopie optique avancée.
- Offre les toute récentes options d'ExperimentPlanner et d'ExperimentControl.
- La plus large gamme d'accessoires pour le contrôle de l'environnement, les mesures électriques, etc.
Performance Supérieure
- Imagerie polyvalente; des réseaux atomiques aux échantillons à grande échelle
- La plus grande sélection de modules complémentaires
- Champ de vision optique étendu pour l'AFM avec fonction de mise en mosaïque.
- Stockage optimisé de vos paramètres et réglages favoris
- Fonctionnement intuitif
- Routines d'analyse par lots standardisées pour la génération d'ensembles de données statistiquement pertinents.
- Alignement du cantilever et du détecteur entièrement automatisé
- Capturez des processus dynamiques rapides dans des environnements difficiles
- Suivez les réactions sur plusieurs échelles de temps, de la milliseconde en passant par la seconde jusqu'à la minute
"Les performances des AFM NanoWizard sont exceptionnelles. Dans le NanoWizard V, Bruker est allé encore plus loin en proposant un alignement automatisé et une imagerie rapide, même pour les grandes tailles de balayage, résolvant ainsi des problèmes réels pour les utilisateurs. Cet instrument va élargir la liste des expériences possibles et rendre banales des expériences autrefois difficiles."
Dr Nic Mullin
Responsable expérimental senior pour le Centre d'imagerie biophysique du département de physique et d'astronomie, Sheffield, UK
Caractérisation Nanomécanique Complète
Bruker s'efforce en continu d'améliorer les capacités de caractérisation nanomécanique de ses AFM, et de fournir des solutions technologiques simples pour des travaux scientifiques complexes.
Le NanoWizard V est la solution idéale pour quantifier les propriétés nanomécaniques et comprendre le rôle crucial qu'elles jouent dans la structure, la morphologie et les interactions moléculaires.
Le NanoWizard V repousse les limites de la science, ouvrant la technologie AFM à un plus grand nombre d'applications et rendant la caractérisation nanomécanique plus rapide, plus facile et plus accessible aux utilisateurs de tous les domaines scientifiques.
Des Capacités Inégalées
- Balayage rapide et facilité d'utilisation combinés à l'imagerie topographique et nanomécanique
- Caractérisation des propriétés viscoélastiques à l'aide de mesures microrhéologiques
- Résonance de contact pour la caractérisation mécanique d'échantillons rigides (>10 GPa)
- Logiciel RampDesigner intuitif et puissant
- Contrôle de la force très sensible et fonctions de préservation de la pointe
- Surveillance de la courbe de force en temps réel
- Cartographie mécanique combinée à la caractérisation électrique de l'échantillon en un seul passage
Nouveau Chapitre de l'Imagerie Quantitative
Symbiose de PeakForce Tapping et du mode QI, PeakForce-QI offre des capacités uniques d'imagerie nanomécanique quantitative. Il combine les taux d'acquisition les plus élevés avec un contrôle avancé de la force pour fournir des images multiparamétriques de haute résolution. L'automatisation de la configuration, du fonctionnement et de l'étalonnage permet de configurer et de réaliser facilement une expérience, et d'obtenir des images et des données de qualité supérieure rapidement et facilement, même pour les non-experts.
Analyse de Données Puissante
Traitement par lots facile et fiable
Création flexible d'images de topographie à différentes forces
Imagerie à force nulle (point de contact) Sortie de la série d'images à partir de n'importe quel canal grâce au traitement par lots.
Le Summum de l'Automatisation et du Fonctionnement Intuitif
Le NanoWizard V a été conçu pour répondre aux besoins spécifiques et actuels des scientifiques dans le domaine de la recherche et de l'industrie. Des solutions matérielles et logicielles innovantes ont permis d'augmenter le débit, d'automatiser les procédures de mesure et d'établir des routines de traitement par lots qui permettent aux scientifiques de se concentrer sur l'essentiel : leurs recherches.
Le plus Haut Niveau d'Automatisation
- Automatisation de l'alignement du système de détection laser
- Calibrage automatisé du levier
- Imagerie multirégionale automatisée à l'aide d'HybridStage ou d'une platine motorisée
- Scénarisation intuitive d'expériences automatisées avec ExperimentPlanner
- ExperimentControl pour le contrôle des expériences à distance
Fonctionnement intuitif
- Logiciel basé sur le flux de travail avec des caractéristiques de facilité d'utilisation essentielles.
- Gestion des utilisateurs, idéale pour les installations multi-utilisateurs
- Assistance logicielle intégrée
- Calibrage de l'image optique en un clic
- Caméra intégrée pour l'alignement du système de détection laser
- Routines de traitement des données complètes
- Sauvegarde pratique de vos paramètres et réglages favoris
Une Flexibilité Inégalée de par sa Conception
La technologie renommée du tip-scanner et la conception modulaire de l'AFM NanoWizard V NanoScience peuvent être intégrées de manière harmonieuse avec les techniques optiques avancées.
Une large gamme de modes et d'accessoires avancés en font l'AFM le plus flexible disponible sur le marché aujourd'hui, permettant des montages expérimentaux et un contrôle environnemental polyvalents.
Large variété de compléments et d'accessoires
- Large gamme d'accessoires de contrôle de la température (de -120 °C à +300 °C)
- Microscopie thermique à balayage (SThM)
- Microscopie à force magnétique (MFM)
- Nanomanipulation
- Microscopie à force de friction
- Imagerie multimodale
- Stades d'étirement
- Diverses cellules fluides
- voir la brochure sur les accessoires pour plus d'options
Caractérisation Électrique à Haute Résolution
- AFM conductif (CAFM)
- Microscopie de force à sonde Kelvin (KPFM)
- Microscopie à force électrostatique (EFM)
- Microscopie à force piézoélectrique (PFM)
- Microscopie à effet tunnel à balayage (STM)
- Microscopie électrochimique à balayage (SECM)
Pour les Expériences Complexes, allant des Polymères jusqu'aux Cellules Solaires
- Options de contrôle environnemental optimisées
- Accessibilité optique de l'échantillon, par ex. pour un éclairage défini
- Option laser de détection 980 nm
- Divers modes pour les expériences à long terme et sans surveillance
La Nouvelle Référence en matière de Numérisation Rapide de Grands Échantillons
La plateforme NanoWizard V NanoScience offre un balayage rapide sur une grande zone de balayage. L'ensemble de la plage de balayage dans les trois axes reste disponible, offrant des vitesses de balayage inégalées et un passage facile entre les caractéristiques de l'échantillon, sans déplacement de l'échantillon ni réduction de la vitesse d'imagerie.
L'option de balayage rapide est idéale pour l'étude des processus dynamiques, offrant la vitesse et la précision nécessaires pour étudier des phénomènes tels que la cristallisation, la croissance, la fusion et la formation de domaines, en temps réel.
Capacités de Balayage Rapide Innovantes au sein d'un AFM Automatisé
- Productivité améliorée et débit maximisé pour des statistiques fiables
- Piezo-z rapide avec une fréquence de résonance élevée pour un retour d'information rapide.
- Routines de balayage adaptatives permettant des taux de balayage allant jusqu'à 400 lignes/sec.
- La technologie NestedScanner permet un balayage rapide des échantillons ondulés avec une plage Z allant jusqu'à 16,5 µm.
- L'équilibrage actif permet un balayage rapide sur de grandes zones de balayage.
Caractérisation Électrique à Haute Résolution
- AFM conductif (CAFM)
- Microscopie de force à sonde Kelvin (KPFM)
- Microscopie à force électrostatique (EFM)
- Microscopie à force piézoélectrique (PFM)
- Microscopie à effet tunnel à balayage (STM)
- Microscopie électrochimique à balayage (SECM)
Lorsque la Stabilité et la plus grande Précision des Données rencontrent la Facilité d'Utilisation
- Balayage rapide avec un contrôle avancé en boucle fermée
- Z-piezo rapide équipé d'un capteur capacitif pour une précision maximale des données.
- Contrôle précis de la force grâce aux dernières technologies de rétroaction.
- Fonction DirectDrive pour une stabilité accrue de l'excitation du cantilever.
- Traitement par lots et routines d'analyse des données avancées
- Créateur de films
Galerie de Données du NanoWizard NanoScience
Les systèmes BioAFM de Bruker permettent aux chercheurs en sciences de la vie et en biophysique d'approfondir leurs recherches dans les domaines de la mécanique et de l'adhésion cellulaire, de la mécanobiologie, des interactions cellule-cellule et cellule-surface, de la dynamique cellulaire et de la morphologie cellulaire. Nous avons rassemblé une galerie d'images démontrant quelques-unes de ces applications.
Modes d'Opération
Modes Opératoires Standard
- Maintenant avec PeakForce-QI, comprenant PeakForce Tapping, QI et PeakForce QNM
- Inclus le PeakForce Tapping rapide et QI avec la technologie de scanner imbriqué.
- Mode contact avec microscopie à force latérale (LFM)
- Tapping Mode™ avec PhaseImaging™
- ExperimentPlanner pour la conception d'un flux de travail de mesure spécifique.
- Spectroscopie de force statique et dynamique
- Cartographie de force avancée
Modes Optionnels
- Modes de spectroscopie avancés, tels que divers modes de fixation de la force ou des rampes.
- Option de balayage rapide avec des fréquences de lignes allant jusqu'à 200 Hz
- Mode QI avancé pour les données quantitatives, parfait pour les échantillons mous.
- Réglage automatique du gain et du point de consigne ScanAsyst dans PeakForce Tapping et PeakForce-QI
- Modes AC avancés tels que FM et PM avec Q-control et Active Gain Control
- Microrhéologie dans un boîtier CellMech
- Microscopie à sonde Kelvin
- MFM et EFM
- AFM conductif (C-AFM)
- STM
- Modes de spectroscopie électrique
- Microscopie à réponse piézoélectrique pour les hautes tensions (HV-PFM)
- Electrochimie et électrochimie à balayage avec contrôle de la température et microscopie optique
- NanoLithographie et NanoManipulation
- NanoIndentation
- AFM thermique à balayage (SThM)
- Solution FluidFM® de Cytosurge
- Fonction ExperimentControl pour le contrôle à distance des expériences
- DirectOverlay 2 pour la combinaison de l'AFM et de la microscopie optique
- Stations supplémentaires de déplacement d'échantillons XY ou Z disponibles avec CellHesion®, TAO et le module HybridStage
La plus grande Gamme d'Accessoires sur le Marché
Systèmes/accessoires optiques, solutions d'électrochimie, caractérisation électrique des échantillons, options de contrôle environnemental, modules logiciels, contrôle de la température, solutions d'isolation acoustique et vibratoire, etc. Bruker vous fournit les bons accessoires pour contrôler les conditions de vos échantillons et réaliser des expériences réussies.
Regardez les Webinaires Récents sur la BioAFM
Nos webinaires couvrent les meilleures pratiques, présentent de nouveaux produits, apportent des solutions rapides à des questions délicates et proposent des idées pour de nouvelles applications, modes ou techniques.