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La microscopie AFM la plus performante en association avec les fonctionnalités co-localisées Micro-Raman

L'incorporation de la microscopie AFM la meilleure de cette industrie et d'un microscope Raman confocal de recherche sur une même plate-forme.

À la suite de l'introduction de la fonctionnalité intégrée à spectroscopie Raman, la plate-forme Dimension Icon® de Bruker permet d'établir de nouvelles normes de caractérisation performante de surfaces, afin d'effectuer des mesures colocalisées avec une efficacité et une simplicité sans pareil. Le système Icon AFM-Raman rapproche les techniques complémentaires que sont la microscopie des forces atomiques et la microscopie Raman dans le but de fournir des informations vitales portant sur la topographie d'un échantillon ainsi que sur sa composition chimique.

Lorsque ces techniques bénéficient en outre de modes sophistiqués AFM comme, par exemple, le logiciel de caractérisation électrique exclusive PeakForce TUNA™ de Bruker et le logiciel de cartographie quantitative nanomécaniquee PeakForce QNM®, les chercheurs peuvent mieux comprendre les mécanismes qui permettent d'obtenir des matériaux aux propriétés spécifiques.

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