Nanoelectrical webslider 2018.007v2
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Nanomechanical webslider 2017.074

L'icône AFM intègre la dernière évolution des technologies d'imagerie et de caractérisation à l'échelle nanométrique de Bruker à l'échelle de l'industrie sur une vaste plate-forme AFM à balayage de pointe. Les capteurs de position de compensation de température de l'icône rendent les niveaux de bruit dans la gamme des sub-angstroms pour l'axe Z et les angstroms dans X-Y. Ce niveau de performance a établi la nouvelle génération de ce que devrait être la Microscopie de Force Atomique.

Performance ultime

  • La conception du capteur exclusif réalise des performances en boucle fermée avec des niveaux de bruit pour tout précédemment invisible sur n'importe quel AFM
  • Un niveau de bruit sensiblement réduit à moins de 30 heures permettant l'imagerie à la résolution sous-nanométrique
  • Les taux de dérive inférieurs à 200pm par minute rendent immédiatement les images sans distorsion

Amélioration de l'automatisation à l'échelle nanométrique

Le nouveau logicie AutoMET™ de Bruker permet de combiner l'imagerie AFM haute résolution avec une métrologie rapide et automatisée. Il offre une facilité d'utilisation et une adaptabilité exceptionnelles pour les mesures critiques à la qualité dans les applications de mesure à haut volume. AutoMET comprend un environnement intuitif et simple d'écriture de recette qui rend extrêmement facile de réduire les routines de mesure complexes aux simples opérations à bouton-poussoir. et une adaptabilité exceptionnelles pour les mesures critiques à la qualité dans les applications de mesure à haut volume. AutoMET comprend un environnement intuitif et simple d'écriture de recette qui rend extrêmement facile de réduire les routines de mesure complexes aux simples opérations à bouton-poussoir.

Productivité exceptionnelle

  • Les outils d'alignement intégrés offrent un positionnement rapide et optimisé de la sonde
  • La caméra haute résolution et le positionnement X-Y permettent une navigation plus rapide et plus efficace
  • ScanAsyst® Imaging et NanoScope® avec modes d'expérience par défaut génère des décennies de connaissances dans des paramètres préconfigurés

Polyvalence supérieure

  • L'accès large à la pointe et à l'échantillon accueille une grande variété d'expériences standard et personnalisées
  • Cartographie à l'échelle nanométrique très sensible et complète de la permittivité et de la conductivité avec PeakForce sMIM™
  • Instrument et logiciel conçus pour profiter pleinement de tous les modes et techniques actuels et futurs de Bruker AFM
  • Les scripts personnalisés programmables par l'utilisateur offrent une mesure et une analyse semi automatisées
Dimension Icon Interface
The intuitive graphical user interface provides immediate access to eight channels and extensive controller functions. Image data (left) show topography of triblock copolymer with 5Kx5K data points, 10μm scan size in closed-loop. Zoomed image (right) is a