Bruker
製品とソリューション アプリケーション サービス ニュースとイベント キャリア 企業情報
少なくとも2文字を使用してください (現在1文字を使用しています) 。

Languages

  • Deutsch
  • English
  • Español
  • Français
  • Italiano
  • Polski
  • Português
  • Русский
  • 中文
  • 日本語
  • 한국어
XRD/XRF Anwendertreffen
XRD/XRF Anwendertreffen
XRD / XRF

Anwendertreffen

XRD & XRF

Willkommen zum XRD/XRF Anwendertreffen

Vielen Dank für Ihre Teilnahme am Anwendertreffen in Bremen (19.-22.09.2022).

Agenda Anwendertreffen:

  • XRD Anwendertreffen
  • XRF Anwendertreffen

 

Vorläufige Agenda Workshops:

  • Standardlose Analyse mit QUANT-EXPRESS
  • Quantifizierung mit TOPAS
  • Phasenanalyse mit EVA
  • XRD/XRF Anwendertreffen 2022 - Vorträge


Seien Sie auch beim diesjährigen Anwendertreffen dabei.

Weitere Informationen

Röntgendiffraktometer

Röntgenbeugung

Kristallographische Struktur, Materialeigenschaften und Phasenanalyse von kristallinen und amorphen Pulvern, Schüttgütern und Dünnschichten.
詳細はこちら
RFA Spektrometer

RFA-Spektrometer

Elementanalyse (Be-U) vom sub-ppm bis zu 100% in festen, pulvrigen und flüssigen Proben
詳細はこちら
Einkristall-Röntgendiffraktometer

Einzelkristall-Röntgenbeugung

Strukturbestimmung von chemischen Verbindungen und biologischen Molekülen
詳細はこちら
Bruker
© Copyright Bruker 2025
Imprint Terms of Use Privacy Notice Cookieに関する通知 Social Responsibility Reports