形状測定 初級コース ピークフォースタッピングモード
ブルカー独自技術のピークフォースタップピングは極めて高い分解能で確からしい形状像を得ることができます。本ウェビナーではピークフォースタッピングの基礎と動作原理を解説し、このモードで測定された高分解能形状像を紹介します。（約30分）2023年5月25日
ウェビナー要約
原子間力顕微鏡（AFM）を用いたナノスケール形状測定方法を大別すると、コンタクトモード、タッピングモード（ＡＣモード、ダイナミックモード、共振モード）、そしてブルカー独自の測定手法であるピークフォースタッピングモードに分けることができます。コンタクトモードは最も接触力が大きく、特殊な条件を除き形状の分解能は、他の二つの方法に比べて低下します。
タッピングモードは、カンチレバーを共振周波数、ナノメータースケールで振動振幅させ、試料と探針間の距離を精密に制御することにより比較的高い分解能で形状像を得ることが出来るようになっています。しかしながら、試料表面近傍におけるカンチレバーの挙動（ダイナミクス）は複雑であり、得られた画像の確からしさが明確でない等の課題も残っています。
ブルカーの独自技術であるピークフォースタッピングは、非共振モードであり、カンチレバーを数kHzのサイン波で試料表面に断続接触させる非常にシンプルな挙動（ダイナミクス）で形状像を取得します。試料にかかる荷重が一定となるようにフィードバックを掛け、タッピングモードの1/10以下程度の接触力で試料表面を走査することにより、極めて高い分解能で確からしい形状像を得ることができます。
今回のウェビナーでは、ピークフォースタッピングの基礎と動作原理を解説し、このモードで測定された高分解能形状像を紹介します。
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