単結晶X線構造解析(SC-XRD)

光学系

光学系はX線源の輝度を保証し、回折実験に必要なX線ビームを得る上で非常に重要です。当社グラファイトモノクロメーター、TRIUMPHモノクロメーター、HELIOS多層膜Montelミラーはそれぞれの用途で最高の結果が得られるように設計されています。

X線源と光学系の組み合わせは、測定に必要なレベルのX線を確保することと予算を考える上で非常に重要です。水冷式の管球では、平板モノクロメーターまたはより高いX線強度が得られる湾曲TRIUMPHモノクロメーターのいずれかを選択できます。

METALJET、TXSマイクロフォーカスローテーティングアノードおよびIμSマイクロフォーカスチューブの全てにおいては良質で高強度X線を生成する第3世代HELIOS多層膜ミラーを選択できます。

グラファイトモノクロメーター

管球と平板モノクロメーターの組み合わせは、太くトップハット型のビームプロファイルを生成します。当社はビームパス(X線源アノードからサンプル位置までの距離)を短く設計することによってX線強度を最大限得られるようにしています。

TRIUMPHモノクロメーター

湾曲型TRIUMPHモノクロメーターはMo対応のみ設定があり、通常の平板モノクロメーターに比べて約3倍程度のX線強度が得られます。TRIUMPHも太くトップハット型のビームプロファイルを生成し、サンプルサイズが小さめのサンプルから大きめのものまでに適しています。

HELIOS多層膜ミラー

HELIOS多層膜ミラーで生成されるX線ビームの直径は100μm程度であり、理想的なガウシアン型のビームプロファイルを持っており、最先端の回折実験で見られる小さな結晶サイズサンプルに適しています。当社最新のHELIOS MXミラーは、10年にもおよぶ放射光施設での経験を基に開発されています。これにより、放射光施設で使用されるようなX線用ミラーを開発し、実験室系向け装置に組み込むことが可能になっています。

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