マントル岩石学とダイヤモンドの源
ダイヤモンドを含んだニューランズキンバリー岩（南アフリカ、カープバールクラトン）のガーネットやスピネルを含むかんらん岩のSEM-XRF元素マップを示します。様々な元素の強度は、サンプルに存在する特定の鉱物を示しています。例えば、Ca(緑)–単斜輝石；Cr(青)–クロマイト；Al(黄色)–ガーネット、交代作用のためのK(オレンジ) です。薄片は 、SEM上のμXRFを使用して分析されました。サンプルは約3cm x 2cmで、単一フレームとして分析されました。各ピクセルの完全なスペクトルにより、要素の追加、マップからのスペクトル抽出、マップの定量化、自動位相などのオフライン処理が可能になります。
μXRFのデータは、サンプル内の微量元素だけでなく、高エネルギーX線も識別できるという利点があります。μXRFは電子ビームよりも大きいものの、小さなスポット分析（約35μm）になります。相互作用の体積は、電子ビームの体積よりもはるかに大きく、元素とサンプルのマトリックスに依存します。その結果、2D 要素マップは、電子ビームと X線で生成されたマップの間に違いをもたらす可能性があります。より低いスペクトルのバックグラウンドにより、電子ビームでは不可能な微量元素の検出が可能になります。サンプルの前処理の要件は異なります。例えば、帯電効果がないため、サンプルコーティングを行う必要はありません。さらに、深い位置の情報を取得するため、高品質な研磨は必要ありません。荒いサンプルでも平面を有する限り、分析することができます。定量は、スタンダードまたはスタンダードレスで実施することができます。
XTraceで取得したニューランズキンバーライトのダイヤモンドを含有したエクロジャイトの大面積X線マップ(30mm x 20mm)（分析パラメータ：50kVの管電圧Rh、アノード電流600μA、ピクセル間隔25μm）。 混合元素強度マップ (Ca–緑, Fe–スカイブルー, K-オレンジ, Ti -紫)。
XTraceで取得したニューランズキンバーライトのダイヤモンドを含有したエクロジャイトの大面積X線マップ(30mm x 20mm)（分析パラメータ：50kVの管電圧Rh、アノード電流600μA、ピクセル間隔25μm）。 上段左から右へ：Mn(赤)、Ca(緑)、Cr(青)；中央左から右へ：Fe(スカイブルー)、Si(紫)、Al(黄色)；下段左から右へ：K(オレンジ)、Mn(明るい緑色)、Ti(濃い紫色)。
XTraceで取得したニューランズキンバーライトのダイヤモンドを含有したエクロジャイトの大面積X線マップ(30mm x 20mm)（分析パラメータ：50kVの管電圧Rh、アノード電流600μA、ピクセル間隔25μm）。 上段左から右へ：F1全X線強度マップ(灰色)、Ni(緑色)；下段左から右へ：Cu(青)、S(黄)。