地幔岩石学与钻石来源

这里展示的是来自含金刚石的新西兰金伯利岩(南非,卡普瓦尔克拉顿)的地幔中石榴石和橄榄石的SEM-XRF元素图。各种元素的强度表示样品中存在的某些矿物;例如Ca (绿色)- clinopyroxene;Cr (蓝色)- 铬铁矿;Al(黄色)- 石榴石和 K(橙色)来自交代变质作用。使用 SEM上的 Micro XRF 对薄部分进行分析。样品约3 cm x 2 cm,并以一帧分析。每个像素的全谱图允许进一步的离线处理,比如添加元素、从图中提取成分谱图、成分量化或自动物相标定。

微区XRF数据具有识别样品中高能X射线线系和微量元素的优点。微区XRF是一个斑点分析(直径约35微米),比电子束大。相对应束源和样品的交互体积也远大于电子束与样品的交互体积,并且与元素和样本基体相关。因此,电子束和 X 射线光子束生成的二维元素面分析图可能会产生差异。较低的谱背景允许XRF 检测电子束无法检测到的微量元素。

同样两者样品制备要求也不同。例如,X射线源不会造成荷电现象,因此完全不需要样品涂层。此外,由于信息深度更深,XRF 样品也不需要高质量的抛光。只要粗糙样品具有相对平整表面就可以分析。定量方面则根据用户需求,可以进行无标样定量,也可以进行有标样定量。

用XTrace获得的新西兰金伯利岩的含金刚石的大面积X射线图(30 mm x 20 mm)(分析参数:Rh 50 kV的管电压,阳极电流600μA,像素间距25μm)。 混合元素强度图(Ca = 绿色,Fe = 天蓝色,K - 橙色,Ti - 紫色)。
用XTrace获得的新西兰金伯利岩的含金刚石大面积X射线图(30毫米x20毫米)(分析参数:Rh 50 kV的管电压,阳极电流600μA,像素间距25μm)。 从左到右的上行:Mn(红色)、Ca(绿色)、Cr(蓝色);中间行从左到右: Fe (天蓝色), Si (紫色), Al (黄色); 从左到右的下行:K(橙色)、Mn(浅绿色)、Ti(深紫色)。
用XTrace获得的新西兰金伯利岩的含金刚石大面积X射线图(30毫米x20毫米)(分析参数:Rh 50 kV的管电压,阳极电流600μA,像素间距25μm)。 从左到右的上行:F1 总 X 射线强度图(灰色)、Ni(绿色);从左到右的下行:Cu(蓝色)、S(黄色)。