ブルカーのModulus Mappingは、動的ナノインデンテーション(nanoDMA)とIn-Situ SPMイメージングを組み合わせることで、材料表面のナノメカニカル特性を定量的に可視化する手法です。
測定中は、剛性の高い圧子に微小な振動荷重を印加しながら、SPMイメージングと同様に試料表面を走査します。取得した変位振幅および位相遅れを解析することで、表面の粘弾性特性を定量的に評価できます。
1回の測定では最大65,536点のデータを取得でき、最短10分程度で測定を完了できます。弾性率マッピングは、不均質材料、複合材料、多相材料、界面などの高分解能機械特性評価に最適です。
Modulus Mappingでは、圧子を微小振幅で走査しながら、材料応答に由来する変位振幅と位相遅れを計測します。
1回の測定で、表面形状、接触剛性、貯蔵弾性率、損失弾性率、およびtanδのマップを同時に取得できます。これにより、材料内の機械特性分布を効率的に把握できるため、詳細なnanoDMA評価や周波数掃引測定を実施する領域の選定にも活用できます。