나노 기계 테스트

계수 매핑

정량적 고해상도 표면 계수 특성화

고해상도 기계식 특성 이미징

다층 세라믹/금속 복합체의 계수 맵입니다.

브루커의 모듈러스 매핑은 Hysitron의 나노 스케일 동적분석(나노DMA III)과시투 스캐닝 프로브 현미경(SPM) 이미징의 강력한 기능을 결합하여 재료 표면의 나노 기계적 특성을 정량적으로 매핑합니다. Modulus 매핑 측정 중에 견고한 나노인덴터 프로브는 SPM 이미징 모드에서 샘플 표면을 스캔하는 동안 고도로 제어된 힘 진폭으로 진동합니다. 결과 변위 진폭 및 위상 지연은 점성탄성 표면 특성을 정량적으로 측정하기 위해 활용됩니다. 각 계수 맵은 65,536개의 개별 테스트로 구성되어 있으며, 10분 만에 수행할 수 있습니다. Modulus 매핑은 불균일한 표면 및 인터페이스의 고해상도 매핑에 이상적입니다.

3nm DLC 코팅의 계수 맵은 코팅의 기계적 특성에서 비균일성을 나타낸다.

탄성 및 점탄성 특성화

Modulus 매핑 래스터는 재료 반응으로 인한 결과 변위 및 위상 지연을 모니터링하는 동안 작은 진동 력으로 샘플 표면 을 통해 인덴터 프로브를 스캔합니다. 영역의 단일 스캔은 지형 정보, 강성, 저장 및 손실 계수 및 황갈색 델타 맵을 제공합니다. 이 미크로네 영역 특성화 기술은 단일 점 주파수 또는 부하 스윕과 같은 나노DMA에 대한 추가 조사가 필요할 수 있는 영역으로 연구원을 안내하는 데 필요한 정보를 제공합니다.