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μXRFによるコーティング解析のフルコントロール

XSpect Pro / XMethodパッケージは、金属多層膜の非破壊特性評価のための強力で汎用性の高いソフトウェアです。XSpect Pro / XMethodは、M1 MISTRALおよび M2 BLIZZARDを含むBrukerのμXRF装置において利用できます。M4 TORNADOは、そのネイティブESPRITソフトウェアとXMethodの組み合わせを使用しています。分析は、ASTM B568およびDIN / ISO 3497に従って行われます。最大25元素を含む12層までの多層膜の組成と膜厚を計算することができます。

装置制御と解析のためのXSpect Pro

  • X線管を含む装置の制御と測定時間の設定
  • システムの安定性のモニタリング
  • オートフォーカスを含む、カメラシステムによる正確なサンプル位置決めのサポート
  • マウス、フットスイッチ、タッチスクリーン操作
  • スペクトル取得、表示および処理
  • ピークフィットおよび強度計算によるスペクトル評価
  • スタンダード法によるバルクサンプルの定量
  • 基本パラメータ(FP)モデルによるバルクおよび薄膜サンプルの定量
  • レポートの生成とデータのアーカイブ

メソッドとスタンダード管理のためのXMethod

  • 装置のドリフトの補正
  • スタンダードサンプルの管理
  • バルク分析用スタンダード法とのバルク・薄膜定量化用FP法の各メソッド作成
  • バルクおよび薄膜分析のためのスタンダード法およびFP法の校正
  • 分析メソッドの管理

 

 

詳細情報

薄膜分析カタログ(PDF)

M1 MISTRALカタログ(PDF)

M2 BLIZZARDパンフレット(PDF)

M4 TORNADOカタログ(PDF)

ラボレポートXRF 457 - 薄膜分析(PDF)

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