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X線回折(XRD)とX線散乱

材料特性の非破壊評価

BrukerのX線回折およびX線散乱装置群は、基礎研究から品質管理までのあらゆる材料の詳細な分析を可能にし、今日の顧客に向けて未来のソリューションを提供します。これらの定性・定量手法のアプリケーションには、以下の技術を含みます。

  • 結晶相定性
  • 結晶相定量
  • 結晶構造の決定
  • 二体分布関数解析 (PDF:全散乱測定)
  • 小角X線散乱測定 (SAXS)
  • X線反射率測定 (XRR)
  • 高分解能X線回折測定 (HRXRD)
  • 逆格子空間マッピング (RSM)
  • 残留応力解析
  • 極点図測定 (集合組織解析)

 

さらに詳しい情報は、X線回折の電子ファイル (PDF)、またはこちらまで