D2-PHASER 2nd Generation - X-ray desktop

D2 PHASER - 優れたデータ品質

D2 PHASERは、卓上型XRDシステムでは不可能と考えられていたデータ品質と測定速度の両立を実現しました。

低2θ角度領域での測定や低いバックグラウンド特性に加え、優れた角度分解能を備え持つことにより、結晶相同定、結晶相定量分析の他、結晶構造解析にいたるまで、すべての粉末XRD分析に最適なソリューションをご提供します。

さらに、Bruker AXSは、すべての2θ角度領域において<±0.02° (2θ) の絶対測角精度を保証します。厳密な装置認証工程により、あらゆるアプリケーションにおいて適切で高精度なデータをお約束します。

優れた光学系アライメント保証

D2 PHASER Superior instrument alignment

すべての2θ角度範囲において2θ<±0.02°を実現する、優れた角度直線性 - Bruker独自の光学系調整保証

優れた低2θ角度領域測定と低バックグラウンド特性

D2 PHASER Superior low angle performance

D2 PHASERにおけるベヘン酸銀サンプルによる2θ<1°の低角領域測定と低バックグラウンド特性データ

高い角度分解能

D2 PHASER Superior resolution

シリコンサンプルにおける2θ半値幅で0.04°を下回る高角度分解能データ