D8 ADVANCE, X-ray diffraction

D8 ADVANCE 構造決定モデル

D8 ADVANCEは、Rietveld (TOPAS)解析や全散乱測定 (PDF解析)、小角X線散乱測定(SAXS)を含む、粉末X線回折(XRPD)から試料構造情報を取り出す際の指標になります。

  • Cu, Co, MoのKα1波長に対応したJohanssonモノクロメーター
  • Cu, Co, Cr, Mo, Agの各種波長に対応した高強度集光型Göbel多層膜ミラー
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